Oletko miettinyt, miten XRF-anysaattori pystyy muutamassa sekunnissa mittaamaan esineiden sisältämät alkuainepitoisuudet? Se onkin mielenkiintoinen prosessi, johon voit perehtyä kanssamme tässä.
Röntgenfluoresenssi eli XRF on ainetta tuhoamaton analyyttinen tekniikka, jota käytetään materiaalien kemiallisen koostumuksen määrittämiseen. XRF-säteilyä syntyy, kun fluoresenssisäteilyä emittoituu näytteestä, jota kiihdytetään röntgenlähteellä.
XRF-säteilyä syntyy, kun fluoresenssisäteilyä emittoituu näytteestä, jota kiihdytetään röntgenlähteellä (esimerkiksi röntgenputkella tai säteilevällä aineella). Fluoresenssisäteily on jokaiselle alkuaineelle ominaista, joten sitä voidaan käyttää määrittelemään, mitä alkuainetta ja kuinka paljon kyseistä alkuainetta on näytteessä. Sitä voidaan käyttää sekä kvalitatiiviseen ( eli laadulliseen, mikä alkuaine on kyseessä), että kvantitatiiviseen ( eli määrälliseen, kuinka paljon kyseistä alkuainetta on näytteessä).
Jokainen alkuaine tuottaa uniikin setin juuri sille alkuaineelle ominaisia röntgensäteitä, joiden avulla analysaattori pystyy tunnistamaan alkuaineen.
Jokainen alkuaine siis tuottaa uniikin setin juuri sille alkuaineelle ominaisia fluoresenssisäteitä. Tästä syystä XRF-spektroskopia on käyttökelpoinen alkuaineanalyysiin. Useimmilla alkuaineilla on monta elektronikuorta ja kun elektronit siirtyvät näiden kuorien välillä röntgenenergian vuoksi, syntyy eri intensiteetillä olevia XRF piikkejä, jotka löytyvät spektristä. Piikin energian avulla tunnistetaan alkuaine ja piikin korkeus/ intensiteetti indikoi sen pitoisuutta.
Tarkemmin XRF-analysaattorin toimintaan pääset tutustumaan lataamalla julkaisemamme maksuttoman oppaan: XRF-teknologiaa tavalliselle tallaajalle.
Oppaan voi ladata tästä:
Jokaisen toimijan tilanne ja tarve on eri. Jotta laitteet ja tarve kohtaavat, ammattitaitoinen henkilökuntamme auttaa löytämään juuri sinulle sopivan ratkaisun. Yhteyttä voit ottaa esimerkiksi tästä:
http://www.holgerhartmann.fi/ota-yhteyttä