Unohda manuaalinen mittaus ja jatkuva näytteen asettelu – nyt laadunvarmistus onnistuu tarkasti, nopeasti ja täysin automaattisesti.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® -sarjan laitteet on suunniteltu tekemään työstäsi helpompaa ja varmempaa, oli kyse sitten tuotannon valvonnasta, saapuvan materiaalin tarkastuksesta tai sarjatuotannon laadun mittaamisesta.
XDL® muistuttaa rakenteeltaan tuttua XULM®-sarjaa, mutta ratkaiseva ero löytyy mittaussuunnasta: mittaus tapahtuu ylhäältä alas. Tämä mahdollistaa epätasaisenkin näytteen analysoinnin vaivattomasti – ja mikä parasta, täysin automaattisesti.
Näyte paikalleen, muutama vaihe – ja mittaus voi alkaa.
Patentoitu DCM-menetelmä säätää mittausetäisyyden automaattisesti.
Vankka ja kestävä rakenne soveltuu vaativaan teollisuusympäristöön.
Tarvitsetko mittausta suurille kappaleille? XDL®-sarjan C-aukollinen huppu tuo lisää tilaa ja joustavuutta. Mittauspisteitä voidaan määrittää koko näytepinnan alueelle, mikä tekee laitteesta monipuolisen työkalun eri sovelluksiin.
Teknisiä etuja mm.:
Täyssuojalaite, hyväksytty käyttöön
Markkinoiden suurin mittausikkuna PC-ilmaisimessa
Näytekorkeus jopa 140 mm
Mittauspiste halkaisijaltaan vain n. Ø 0,2 mm
Soveltuu myös pinnoituskylpyjen metallipitoisuuden määritykseen
XDL®-sarjan laitteet palvelevat monia eri teollisuudenaloja:
Korroosiosuojaus: galvanoidut pinnoitteet kuten sinkki raudalla
Massatuotannon testaukset: nopea sarjamittaus
Koristekromaus: Cr/Ni/Cu/ABS ja kaikki yleiset kromipinnoitteet (myös Cr(III))
Elektroniikkateollisuus: liittimien ja koskettimien pinnoitteet (esim. Au/Ni/Cu, Sn/Ni/Cu)
Kemianteollisuus: pinnoituskylpyjen metallipitoisuuden analysointi
Verkkosivuiltamme löydät lisää tietoa, videoita ja maksutonta materiaalia laitteista. Tutustu tarkemmin täällä:
https://www.holgerhartmann.fi/fischercope-x-ray-xdl-ja-xdlm
Santtu Ojala
Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet
010 526 3987
santtu.ojala(at)holger.fi