Blogi | Holger Hartmann Oy

4. joulukuuta 2022

Kirjoittanut Tanja Siuvatti | 4.12.2022 6:05

 

Tontut ovat päässeet näkemään miten XRF-laitteilla mitataan ja analysoidaan näytteitä. Muutamia tärkeitä huomioita ovat Holgerin asiantuntijat antaneet. 


4. joulukuuta 🎅

 

Tontut ovat olleet näytteiden analysoinnissa Holgerin ammattilaisten mukana ja oppineet paljon uutta ja haluavatkin jakaa oppimaansa teidän kanssanne.

Tiesitkö, että näyte tulisi käsitellä ennen mittausta?

- Miksi ihmeessä tontut kysyivät ja holgerin asiantuntijat vastasivat näin:

Kannettava XRF-analysaattori on pintamittaustekniikka. Tästä syystä näytealueet, joista pinnoitteita/maalia ei ole kokonaan poistettu antavat huonoja, epätarkkoja ja epäluotettavia tuloksia. Esimerkiksi titaani, lyijy, sinkki (jäännösalkuaineita maalista), sinkki (jäännösalkuaine galvanoinnista) tai epätavallisen korkea Pii (jäännösalkuaine hiekkapuhalluksesta) ovat tyypillisiä maalatusta/pinnoitetusta teräksestä löydettyjä "ylimääräisiä" alkuaineita/kohonneita pitoisuuksia. 

Esimerkiksi Niton-analysaattori merkitsee tällaiset metalliseokseen kuulumattomat alkuaineet tähtimerkillä ( * ) alkuaineen tunnuksen vieressä. 

 

Kerromme mielellämme lisää laitteistamme, joten älä epäröi ottaa yhteyttä tiimiimme!

Lisätietoa laitteistamme saat asiantuntevalta henkilökunnaltamme!

Voit ottaa yhteyttä tiimiimme klikkaamalla oheista team -kuvaa: