Tontut ovat päässeet näkemään miten XRF-laitteilla mitataan ja analysoidaan näytteitä. Muutamia tärkeitä huomioita ovat Holgerin asiantuntijat antaneet.
4. joulukuuta 🎅
Tontut ovat olleet näytteiden analysoinnissa Holgerin ammattilaisten mukana ja oppineet paljon uutta ja haluavatkin jakaa oppimaansa teidän kanssanne.
Tiesitkö, että näyte tulisi käsitellä ennen mittausta?
- Miksi ihmeessä tontut kysyivät ja holgerin asiantuntijat vastasivat näin:
Kannettava XRF-analysaattori on pintamittaustekniikka. Tästä syystä näytealueet, joista pinnoitteita/maalia ei ole kokonaan poistettu antavat huonoja, epätarkkoja ja epäluotettavia tuloksia. Esimerkiksi titaani, lyijy, sinkki (jäännösalkuaineita maalista), sinkki (jäännösalkuaine galvanoinnista) tai epätavallisen korkea Pii (jäännösalkuaine hiekkapuhalluksesta) ovat tyypillisiä maalatusta/pinnoitetusta teräksestä löydettyjä "ylimääräisiä" alkuaineita/kohonneita pitoisuuksia.
Esimerkiksi Niton-analysaattori merkitsee tällaiset metalliseokseen kuulumattomat alkuaineet tähtimerkillä ( * ) alkuaineen tunnuksen vieressä.
Kerromme mielellämme lisää laitteistamme, joten älä epäröi ottaa yhteyttä tiimiimme!
Lisätietoa laitteistamme saat asiantuntevalta henkilökunnaltamme!
Voit ottaa yhteyttä tiimiimme klikkaamalla oheista team -kuvaa: