FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® -sarjan laitteet sopivat perusvarustukseksi jokaiseen galvanointiyritykseen. Suoraviivai-set ja edulliset ED-XRF-analysaattorit ovat erinomaisia laitteita pinnoitusseoksen koostumuksen seurantaan. Laitteet ovat vankkoja ja sopivat täydellisesti galvaanisten pinnoitteiden mittaamiseen massatuotetuissa osissa, kuten muttereissa ja pulteissa.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

Kuten XUL-sarja, XRF-spektrometri FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® soveltuu erinomaisesti muodoltaan yksinkertaisten näytteiden analysointiin. XAN-sarjan suuri etu on kuitenkin niiden korkealaatuisissa puolijohdedetektoreissa. Röntgenfluoresenssin (XRF) avulla voit paitsi mitata päällysteiden paksuuden myös analysoida seosten koostumusta.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®-röntgenfluoresenssispektrometrit (XRF) liittyvät läheisesti XUL-sarjaan. Kaikki näissä sarjoissa käytetään samoja pääkomponentteja, mutta XDL- ja XDLM-laitteet mittaavat ylhäältä alas.

Se tarkoittaa ei-tasomaisten näytteiden kätevää XRF-analyysiä - monimutkaiset muodot eivät ole enää ongelma! Ylhäältä alas mitattaessa myös näytteiden automaattinen analysointi on mahdollista. Näytetaso on ohjelmoitavissa mahdollistaen koko pinnan skannauksen.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® on XDL-sarjan paras röntgenfluoresenssimittauslaite. XDAL mittaa ylhäältä alas, mikä tekee epäsäännöllisen muotoisten näytteiden testaamisesta helppoa ja kätevää. Mittausolosuhteiden optimoimiseksi FISCHERSCOPE X-RAY XDAL:n vakiovarusteena on vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet.

Mitä vaativampi mittaustehtävä on, sitä suurempi merkitys detektorityypillä on! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL tarjoaa 3 erilaista puolijohdedetektoria. 

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

XDV®-SDD

XDV®-SDD on yksi tehokkaimmista Fischer-tuotevalikoiman röntgenfluoresenssianalysaattoreista kerrospaksuuden mittaamiseen. Se on varustettu erityisen herkällä SDD-detektorilla. Laitteen avulla voit mitata myös hyvin ohuita kerroksia ainetta rikkomattomasti - esim. noin 2 nm paksuiset johdinkehysten kultapinnoitteet.

Samanaikaisesti XDV-SDD soveltuu täydellisesti materiaalia rikkomattomattomaan analyysiin. Esimerkiksi sen havaitsemisherkkyys muovista peräisin oleville lyijypitoisuuksille on noin 2 ppm - useita kertaluokkia pienempi kuin RoHS: n tai CPSIA: n vaatimat arvot.

Jotta voit luoda ihanteelliset olosuhteet jokaiselle XRF-mittaukselle, XDV-SDD:ssä on vaihdettavat kollimaattorit ja pääsuodattimet, mikä mahdollistaa työskentelyn tieteellisellä tasolla. Erittäin vankka laite on silti helppo käyttää ja se on suunniteltu erityisesti sarjatestaukseen teollisessa käytössä. Ominaisuudet, kuten sen automaattisesti pidentyvä mittausvaihe ja mittauskohteen reaaliaikainen kuva, tekevät päivittäisestä työstäsi helpompaa.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ / XDV-μ LD

Fischer on kehittänyt FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: n erityisesti pienimpien rakenteiden ja komponenttien mittaamiseen lyhyillä mittausajoilla. Laitteen detektori ja optiikka mahdollistavat tarkat, toistettavat mittaukset esim. kiinnityspinnoille, pintaliitoskomponenteille tai ohuille johtimille. Myös painettujen piirilevyjen pinnoitteiden tarkka laadunvalvonta hoituu varmistaen niiden pitkän aikavälin toiminnan.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® -µ LD on hyvä laite suurten näytteiden mittaamiseen. 12 mm mittausetäisyyden ansiosta jopa kootut piirilevyt voidaan mitata ilman ongelmia.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Yksinkertaisia ​​mittauksia ja pistokokeita varten FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB on ihanteellinen XRF-laite. Se on varustettu detektorityypillä, joka lyhentää mittausaikoja. Tätä röntgenfluoresenssilaitetta suositellaan yli 0,1 µm paksujen kerrosten paksuusmittauksiin.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle