- Teollisuus
- Turvallisuus
- Kierrätys
- Tuotteet
- Yritys
- Blogi
- Ota yhteyttä
Santtu Ojala
Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet
010 526 3987
santtu.ojala(at)holger.fi
FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® -sarjan laitteet sopivat perusvarustukseksi jokaiseen galvanointiyritykseen. Suoraviivaiset ja edulliset ED-XRF-analysaattorit ovat erinomaisia laitteita pinnoitusseoksen koostumuksen seurantaan. Laitteet ovat vankkoja ja sopivat täydellisesti galvaanisten pinnoitteiden mittaamiseen massatuotetuissa osissa, kuten muttereissa ja pulteissa.
Kuten XUL-sarja, XRF-spektrometri FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® soveltuu erinomaisesti muodoltaan yksinkertaisten näytteiden analysointiin. XAN-sarjan suuri etu on kuitenkin niiden korkealaatuisissa puolijohdedetektoreissa. Röntgenfluoresenssin (XRF) avulla voit paitsi mitata päällysteiden paksuuden myös analysoida seosten koostumusta.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®-röntgenfluoresenssispektrometrit (XRF) liittyvät läheisesti XUL-sarjaan. Kaikki näissä sarjoissa käytetään samoja pääkomponentteja, mutta XDL- ja XDLM-laitteet mittaavat ylhäältä alas.
Se tarkoittaa ei-tasomaisten näytteiden kätevää XRF-analyysiä - monimutkaiset muodot eivät ole enää ongelma! Ylhäältä alas mitattaessa myös näytteiden automaattinen analysointi on mahdollista. Näytetaso on ohjelmoitavissa mahdollistaen koko pinnan skannauksen.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® on XDL-sarjan paras röntgenfluoresenssimittauslaite. XDAL mittaa ylhäältä alas, mikä tekee epäsäännöllisen muotoisten näytteiden testaamisesta helppoa ja kätevää. Mittausolosuhteiden optimoimiseksi FISCHERSCOPE X-RAY XDAL:n vakiovarusteena on vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet.
Mitä vaativampi mittaustehtävä on, sitä suurempi merkitys detektorityypillä on! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL tarjoaa 3 erilaista puolijohdedetektoria.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
.jpg?width=333&height=250&name=RS2617_xdv-mu-scr%20(1).jpg)
XDV®-SDD on yksi tehokkaimmista Fischer-tuotevalikoiman röntgenfluoresenssianalysaattoreista kerrospaksuuden mittaamiseen. Se on varustettu erityisen herkällä SDD-detektorilla. Laitteen avulla voit mitata myös hyvin ohuita kerroksia ainetta rikkomattomasti - esim. noin 2 nm paksuiset johdinkehysten kultapinnoitteet.
Samanaikaisesti XDV-SDD soveltuu täydellisesti materiaalia rikkomattomattomaan analyysiin. Esimerkiksi sen havaitsemisherkkyys muovista peräisin oleville lyijypitoisuuksille on noin 2 ppm - useita kertaluokkia pienempi kuin RoHS: n tai CPSIA: n vaatimat arvot.
Jotta voit luoda ihanteelliset olosuhteet jokaiselle XRF-mittaukselle, XDV-SDD:ssä on vaihdettavat kollimaattorit ja pääsuodattimet, mikä mahdollistaa työskentelyn tieteellisellä tasolla. Erittäin vankka laite on silti helppo käyttää ja se on suunniteltu erityisesti sarjatestaukseen teollisessa käytössä. Ominaisuudet, kuten sen automaattisesti pidentyvä mittausvaihe ja mittauskohteen reaaliaikainen kuva, tekevät päivittäisestä työstäsi helpompaa.
Fischer on kehittänyt FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: n erityisesti pienimpien rakenteiden ja komponenttien mittaamiseen lyhyillä mittausajoilla. Laitteen detektori ja optiikka
mahdollistavat tarkat, toistettavat mittaukset esim. kiinnityspinnoille, pintaliitoskomponenteille tai ohuille johtimille. Myös painettujen piirilevyjen pinnoitteiden tarkka laadunvalvonta hoituu varmistaen niiden pitkän aikavälin toiminnan.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® -µ LD on hyvä laite suurten näytteiden mittaamiseen. 12 mm mittausetäisyyden ansiosta jopa kootut piirilevyt voidaan mitata ilman ongelmia.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
Yksinkertaisia mittauksia ja pistokokeita varten FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB on ihanteellinen XRF-laite. Se on varustettu detektorityypillä, joka lyhentää mittausaikoja. Tätä röntgenfluoresenssilaitetta suositellaan yli 0,1 µm paksujen kerrosten paksuusmittauksiin.
Materiaalien testauksessa dynaaminen menetelmä on tullut täydentämään klassista nanokovuusmittausta. FISCHERSCOPE® HM2000 määrittää viskoelastiset ominaisuudet nanometrin mitta-alueella
Jos haluat mitata näytettä useista pisteistä tai tehdä automaattisen testauksen, FISCHERSCOPE HM2000 on ihanteellinen. Muutamalla napsautuksella voit ohjelmoida mittauspisteet - laite hoitaa loput.
Galvanoinnin laatutestauksen lisäksi FISCHERSCOPE HM2000:n yleinen sovelluskohde on polymeerien karakterisointi eri lämpötiloissa. Tätä tarkoitusta varten automaattinen järjestelmä voidaan varustaa lämmitysvaiheella.
PICODENTOR® HM 500 yhdistää huipputeknologian ja helppokäyttöisyyden. Laite on suunniteltu erittäin hienoihin nanokovuustesteihin ja dynaamiseen mekaaniseen analyysiin. Laite mahdollistaa monien materiaaliparametrien – kuten Martens- ja Vickers-kovuuden – tarkan, syvyysriippuvan mittaamisen.
HM500:n erinomainen voima- ja siirtymätarkkuus mahdollistavat pinnoitteiden analysoinnin nanometrin alueella. Tämä tarjoaa tarkkuustason, joka yleensä löytyy vain hyvin monimutkaisista - ja paljon kalliimmista - mittauslaitteista. Automaattisen näytepöydän ja tehokkaan mikroskoopin avulla voit ohjelmoida automaattiset testit vain muutamalla napsautuksella.
Tietyn kerrospaksuuden yläpuolella kerroksen paksuuden rikkomaton mittausröntgenfluoresenssilla ei ole enää mahdollista. Tämän jälkeen esiin marssii laitteemme COULOSCOPE® CMS2 mittaa melkein minkä tahansa yksi- ja monikerroksisen metallipinnoitteen paksuuden kulometrisen menetelmän avulla. Laite soveltuu erityisesti galvanoitujen päällysteiden laadunvalvontaan sekä piirilevyjen tinan jäännöspaksuuden valvontaan.
Tämä tehdään yksinkertaisesti poistamalla pinnoite. Monet yleiset yksi- ja monikerroksiset pinnoitteet voidaan mitata tarkasti COULOSCOPE CMS2: lla.
Kulometrinen menetelmä on kustannustehokas, tarkka vaihtoehto röntgenfluoresenssimenetelmälle - edellyttäen, että voit hyväksyä tuhoavan menetelmän pinnoitteen paksuuden mittaamiseen. Se tarjoaa sinulle maksimaalisen joustavuuden, koska sitä voidaan käyttää monenlaisissa pinnoite-tausta-yhdistelmissä. Hyödynnät pinnoitteen paksuuden mittaamisen kulometristä menetelmää erityisesti galvanoitujen päällysteiden laadunvalvonnassa sekä painettujen piirilevyjen tinan jäännöspaksuuden valvonnassa.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
Laite voidaan räätälöidä mittaus- ja testaustarpeisiisi kahdeksan plug-in-moduulin avulla. Esimerkiksi PERMASCOPE®- ja SIGMASCOPE®-laajennuskorttien sekä niiden antureiden kanssa käytettynä voit mitata sekä pinnoitteen paksuuden että sähkönjohtavuuden samalla laitteella. Tämä all-in-one-mittausjärjestelmä säästää aikaa ja rahaa poistamalla erillisten laitteiden tarpeen ja tehostamalla laadunhallintaprosessejasi.
Vaihdettavien korttimoduulien avulla käyttäjä voi suorittaa amplitudi- ja vaiheherkät pyörrevirtamittaukset ja magneettiset induktiomittaukset vaihtamatta instrumentteja. MMS PC2:n joustavuus, tarkkuus ja tiedonkäsittely tekevät siitä täydellisen ratkaisun ainutlaatuisiin pinnoitteen mittaus- ja materiaalitestaustarpeisiisi.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
Käytännöllinen käyttää, rakennettu kestämään. MP0- ja MP0R-sarjojen pinnoitepaksuusmittarit ovat kompakti ratkaisu luotettavaan korroosiosuojaukseen. Kaksoisnäytöillä, kestävillä koteloilla ja kulutusta kestävillä anturikärjillä varustettuina ne ovat ihanteellinen valinta kentällä tehtäviin mittauksiin.
PERMASCOPE® MP0- ja MP0R-malleilla voit mitata tarkasti teräksen ja raudan maalipaksuudet. ISOSCOPE® MP0R:n avulla voit mitata päällysteitä käytännössä kaikilta raudattomilta metalleilta. DUALSCOPE® MP0- ja MP0R-mallien etuna puolestaan on ylivoimainen joustavuus: riippumatta siitä, onko pinnoite teräksellä vai raudattomalla metallilla, oikea mittausmenetelmä valitaan automaattisesti alustan mukaan.
Fischerin DUALSCOPE® FMP100- ja DUALSCOPE® H FMP150 -malleilla saavutetaan maksimaalinen joustavuus pinnoitteen paksuuden mittauksessa, täyttäen samalla korkeimmatkin tarkkuuden ja toistettavuuden vaatimukset. Ne yhdistävät induktiivisen mittausmenetelmän ja pyörrevirtaisen testausmenetelmän yhdessä pinnoitepaksuusmittauksessa, joten voit mitata pinnoitteen paksuudet sekä teräksestä että raudattomista metalleista vaihtamatta laitetta. DUALSCOPE H FMP150 tarjoaa myös magneettisen menetelmän. Tämän avulla voit mitata mm. raudattomien metallien tai sähköeristeiden nikkelikerroksia.
DUALSCOPE FMP100 ja DUALSCOPE H FMP150 ovat ihanteellisia laadunvarmistuksen edistyneimmille mittaussovelluksille. Voit käyttää näitä kannettavia laitteita esimerkiksi maalikalvon paksuuden mittaamiseen. Voit jopa mitata CDC-pinnoitteet helposti ja tarkasti. Kosketusnäytöllä ja Windows ™ CE -käyttöjärjestelmällä varustetut instrumentit ovat nopeita ja intuitiivisia käyttää. Suuren muistinsa ansiosta ne voivat käsitellä useita tuhansia mittaustehtäviä useilla tuhansilla mitatuilla arvoilla.
Mittausten arvioimiseksi on käytettävissä erilaisia tilastollisia ja analyyttisiä toimintoja. Laitteissa on patentoitu tehdasdiagnoosikaavio (FDD), joka visualisoi prosessin ja tarjoaa graafisen yleiskuvan tuotantomuuttujien, kuten kerroksen paksuuden, jakautumisesta.
PHASCOPE® PMP10 -laitteen kaltaisen kädessä pidettävän pinnoitteen paksuusmittarin
avulla galvanoitujen pinnoitteiden mittaaminen on helppoa pienillekin galvanoiduille osille, kuten muttereille, pulteille ja ruuveille. Laite on monipuolinen ja helppokäyttöinen. Sillä voi määrittää myös raudattomien metallipinnoitteiden paksuuden esimerkiksi eristävillä alustoilla, kuten PCB-levyillä, tai nikkelin teräksellä, sinkin tai kuparin teräksellä ja kuparin messingillä tai pronssilla.
PHASCOPE PMP10:llä on useita ominaisuuksia, jotka säästävät aikaa ja voivat parantaa galvanoinnin toimintojen laadunvarmistusprosesseja. Yhdistettynä ESD2.4-anturiin se antaa sinun mitata pinnoitteet nopeasti pienistä osista, koska mittauspisteen geometrian uudelleenkalibrointia ei yleensä tarvita. Myöskään karkeat pinnat eivät heikennä mittausten tarkkuutta.
PHASCOPE PMP10 käyttää vaiheherkkää pyörrevirtamenetelmää, joka on ihanteellinen pienille esineille, kuten muttereille ja pulteille, koska testikappaleen muoto vaikuttaa hyvin vähän itse mittaukseen. Tämä menetelmä mahdollistaa myös kosketuksettoman mittauksen: esimerkiksi kuparipinnoitteen paksuuden määrittäminen piirilevyllä - suojamaalipinnoitteen läpi.
Etsitkö auton maalipaksuusmittaria kaksoispinnoitteiden (maali / sinkki) mittaamiseksi
alumiinista tai galvanoidusta teräksestä valmistetuille alustoille? Vastaus on Fischerin PHASCOPE® PMP10 DUPLEX. Autoteollisuus pitää sitä parhaimpana maalimittarina metallilevyjen, jarruputkien, lankojen ja muiden tyypillisten sovellusten käsittelyyn.
Yhdistettynä ESG20-anturiin PHASCOPE PMP10 DUPLEX tarjoaa monia ominaisuuksia, jotka voivat säästää aikaa ja parantaa autoteollisuuden laadunvarmistusprosesseja. Tämä paksuusmittari mittaa sekä maali- että sinkkikerrokset yhdellä kertaa - ja näyttää ne erikseen näytöllä. Automaattinen pohjamateriaalin tunnistusominaisuus tekee mittaamisesta helppoa ilman, että antureita on vaihdettava.
PHASCOPE PMP10 DUPLEX yhdistää kolme erilaista menetelmää autojen kaksipuolisten pinnoitteiden mittaamiseen. DIN EN ISO 2178 -standardin mukainen magneettinen induktiomenetelmä mittaa raudan maali- / sinkkipinnoitteiden kokonaispaksuuden. Amplitudiherkkä pyörrevirtamenetelmä, DIN EN ISO 2360, mittaa yhden maalikerroksen alumiinilla. Vaiheherkkä pyörrevirtausmenetelmä ISO 21968 mittaa vain raudan sinkkipinnoitteet huomioimatta mahdollisia päällekkäisiä maalikerroksia.
SIGMASCOPE® SMP350 on kompakti kannettava laite värimetallien sähkönjohtavuuden
mittaamiseen. Se mittaa nopeasti ja tarkasti alumiinin tai kuparin sähkönjohtavuutta. Mitatun johtavuuden perusteella voit tehdä lisää johtopäätöksiä lämpökäsiteltyjen materiaalien kovuudesta ja lujuudesta. Näin voit seurata suurille lämpötilan vaihteluille altistuvien komponenttien stabiilisuutta. Jopa lämpövahingot ja materiaalien väsyminen voidaan määrittää yksinkertaisesti tällä tavalla.
Sähkönjohtavuuden mittaamiseksi laite käyttää vaiheherkkää pyörrevirtamenetelmää (standardien DIN EN 2004-1 ja ASTM E1004 mukaan). Menetelmän avulla on mahdollista mitata sähkönjohtavuutta jopa 500 µm paksun maali- tai muovipinnoitteen läpi. Se minimoi myös pinnan karheuden vaikutuksen.
Käsilaitteiden SIGMASCOPE GOLD B ja SIGMASCOPE GOLD C avulla voit tarkistaa kullan aitouden milloin tahansa - nopeasti ja tarkasti. Johtokykyä käyttämällä nämä kultatesterit osoittavat luotettavasti, onko näytteessä vieraita materiaaleja, kuten volframia. Kullan aitoustestaus on siten rikkomaton eikä aiheuta materiaalin tai arvon menetystä.
SIGMASCOPE GOLD B on kehitetty erityisesti kultaharkkojen analysointiin. Vaikka tämä
kädessä pidettävä laite voi mitata jopa 17 mm paksuja tankoja, sen muuttuvat tunkeutumissyvyysasetukset mahdollistavat myös ohuempien tankojen testaamisen.
SIGMASCOPE GOLD C on kädessä pidettävä laite kultakolikoiden ja ohuiden tankojen (enintään noin 100 g) aitouden tarkistamiseksi. Olipa kyseessä Krugerrandit, dukatit, kolikkokulta tai hienokulta - tämän helppokäyttöisen kultatesterin avulla tiedät heti, onko kimallus todella kultaa.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
Joskus tarkan ferriittipitoisuuden tunteminen on välttämätöntä. Varsinkin silloin, kun austeniittisten terästen ja dupleksiterästen on kestettävä kuumuutta, aggressiivisia kemikaaleja ja/tai korkeaa painetta.
FERITSCOPE® FMP30 avulla voit mitata ferriittipitoisuutta missä ja milloin tahansa - se on nopea, tarkka ja ainetta rikkomaton. Vankan kädettä pidettävän laitteen edut tulevat esiin, kun sitä käytetään kemian-, energia- ja prosessiteknisissä laitoksissa. Laaja valikoima Fischer-mittapäitä helpottaa ferriittipitoisuuden mittaamista, vaikka mittapistettä olisi vaikea saavuttaa.
Tästä pääset laitteen omalle sivulle
