FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®-röntgenfluoresenssispektrometrit (XRF) liittyvät läheisesti XUL-sarjaan. Kaikki näissä sarjoissa käytetään samoja pääkomponentteja, mutta XDL- ja XDLM-laitteet mittaavat ylhäältä alas.

Se tarkoittaa ei-tasomaisten näytteiden kätevää XRF-analyysiä - monimutkaiset muodot eivät ole enää ongelma! Ylhäältä alas mitattaessa myös näytteiden automaattinen analysointi on mahdollista. Näytetaso on ohjelmoitavissa mahdollistaen koko pinnan skannauksen.

 

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

 

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® on XDL-sarjan paras röntgenfluoresenssimittauslaite. XDAL mittaa ylhäältä alas, mikä tekee epäsäännöllisen muotoisten näytteiden testaamisesta helppoa ja kätevää. Mittausolosuhteiden optimoimiseksi FISCHERSCOPE X-RAY XDAL:n vakiovarusteena on vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet.

Mitä vaativampi mittaustehtävä on, sitä suurempi merkitys detektorityypillä on! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL tarjoaa 3 erilaista puolijohdedetektoria. 

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

XDV®-SDD

XDV®-SDD on yksi tehokkaimmista Fischer-tuotevalikoiman röntgenfluoresenssianalysaattoreista kerrospaksuuden mittaamiseen. Se on varustettu erityisen herkällä SDD-detektorilla. Laitteen avulla voit mitata myös hyvin ohuita kerroksia ainetta rikkomattomasti - esim. noin 2 nm paksuiset johdinkehysten kultapinnoitteet.

Samanaikaisesti XDV-SDD soveltuu täydellisesti materiaalia rikkomattomattomaan analyysiin. Esimerkiksi sen havaitsemisherkkyys muovista peräisin oleville lyijypitoisuuksille on noin 2 ppm - useita kertaluokkia pienempi kuin RoHS: n tai CPSIA: n vaatimat arvot.

Jotta voit luoda ihanteelliset olosuhteet jokaiselle XRF-mittaukselle, XDV-SDD:ssä on vaihdettavat kollimaattorit ja pääsuodattimet, mikä mahdollistaa työskentelyn tieteellisellä tasolla. Erittäin vankka laite on silti helppo käyttää ja se on suunniteltu erityisesti sarjatestaukseen teollisessa käytössä. Ominaisuudet, kuten sen automaattisesti pidentyvä mittausvaihe ja mittauskohteen reaaliaikainen kuva, tekevät päivittäisestä työstäsi helpompaa.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

Yksinkertaisia ​​mittauksia ja pistokokeita varten FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB on ihanteellinen XRF-laite. Se on varustettu detektorityypillä, joka lyhentää mittausaikoja. Tätä röntgenfluoresenssilaitetta suositellaan yli 0,1 µm paksujen kerrosten paksuusmittauksiin.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

SERTIFIOIDUT XRF KALIBROINTISTANDARDIT

Vain hyvin kalibroitu mittauslaite tuottaa oikeat tulokset. Kaikki Fischerin kalibrointistandardit on luotu ISO 17025-akkreditoiduissa laboratorioissa.

Sarja sisältää yli 300 kalibrointistandardia pinnoitteen paksuuden mittaamiseen ja materiaalianalyysiin käyttämällä energiadispersiivistä röntgenfluoresenssia (EDXRF). Yksittäisten standardien lisäksi tarjoamme myös referenssimateriaaleja erilaisiin sovelluksiin, kuten RoHS, kulta ja korut tai piirilevyt.

Vaadittavasta jäljitettävyydestä riippuen kalibrointistandardit ovat saatavana joko valmistajan sertifikaatilla tai ISO 17025 -sertifikaatilla. Yhdessä Fischerin asiantuntijoiden kanssa autamme mielellämme valitsemaan oikean kalibrointistrategian.

FISCHERSCOPE® HM2000 S

FISCHERSCOPE® HM2000

Materiaalien testauksessa dynaaminen menetelmä on tullut täydentämään klassista nanokovuusmittausta. FISCHERSCOPE® HM2000 määrittää viskoelastiset ominaisuudet nanometrin mitta-alueella

Jos haluat mitata näytettä useista pisteistä tai tehdä automaattisen testauksen, FISCHERSCOPE HM2000 on ihanteellinen. Muutamalla napsautuksella voit ohjelmoida mittauspisteet - laite hoitaa loput.

Galvanoinnin laatutestauksen lisäksi FISCHERSCOPE HM2000:n yleinen sovelluskohde on polymeerien karakterisointi eri lämpötiloissa. Tätä tarkoitusta varten automaattinen järjestelmä voidaan varustaa lämmitysvaiheella.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

PICODENTOR® HM 500

PICODENTOR® HM 500 yhdistää huipputeknologian ja helppokäyttöisyyden. Laite on suunniteltu erittäin hienoihin nanokovuustesteihin ja dynaamiseen mekaaniseen analyysiin. Laite mahdollistaa monien materiaaliparametrien – kuten Martens- ja Vickers-kovuuden – tarkan, syvyysriippuvan mittaamisen.

HM500:n erinomainen voima- ja siirtymätarkkuus mahdollistavat pinnoitteiden analysoinnin nanometrin alueella. Tämä tarjoaa tarkkuustason, joka yleensä löytyy vain hyvin monimutkaisista - ja paljon kalliimmista - mittauslaitteista. Automaattisen näytepöydän ja tehokkaan mikroskoopin avulla voit ohjelmoida automaattiset testit vain muutamalla napsautuksella.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

COULOSCOPE® CMS2

Tietyn kerrospaksuuden yläpuolella kerroksen paksuuden rikkomaton mittaus röntgenfluoresenssilla ei ole enää mahdollista. Tämän jälkeen esiin marssii laitteemme COULOSCOPE® CMS2 mittaa melkein minkä tahansa yksi- ja monikerroksisen metallipinnoitteen paksuuden kulometrisen menetelmän avulla. Laite soveltuu erityisesti galvanoitujen päällysteiden laadunvalvontaan sekä piirilevyjen tinan jäännöspaksuuden valvontaan.

 Tämä tehdään yksinkertaisesti poistamalla pinnoite. Monet yleiset yksi- ja monikerroksiset pinnoitteet voidaan mitata tarkasti COULOSCOPE CMS2: lla.

Kulometrinen menetelmä on kustannustehokas, tarkka vaihtoehto röntgenfluoresenssimenetelmälle - edellyttäen, että voit hyväksyä tuhoavan menetelmän pinnoitteen paksuuden mittaamiseen. Se tarjoaa sinulle maksimaalisen joustavuuden, koska sitä voidaan käyttää monenlaisissa pinnoite-tausta-yhdistelmissä. Hyödynnät pinnoitteen paksuuden mittaamisen kulometristä menetelmää erityisesti galvanoitujen päällysteiden laadunvalvonnassa sekä painettujen piirilevyjen tinan jäännöspaksuuden valvonnassa.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

FISCHERSCOPE® MMS® PC2

Laite voidaan räätälöidä mittaus- ja testaustarpeisiisi kahdeksan plug-in-moduulin avulla. Esimerkiksi PERMASCOPE®- ja SIGMASCOPE®-laajennuskorttien sekä niiden antureiden kanssa käytettynä voit mitata sekä pinnoitteen paksuuden että sähkönjohtavuuden samalla laitteella. Tämä all-in-one-mittausjärjestelmä säästää aikaa ja rahaa poistamalla erillisten laitteiden tarpeen ja tehostamalla laadunhallintaprosessejasi.

Vaihdettavien korttimoduulien avulla käyttäjä voi suorittaa amplitudi- ja vaiheherkät pyörrevirtamittaukset ja magneettiset induktiomittaukset vaihtamatta instrumentteja. MMS PC2:n joustavuus, tarkkuus ja tiedonkäsittely tekevät siitä täydellisen ratkaisun ainutlaatuisiin pinnoitteen mittaus- ja materiaalitestaustarpeisiisi.

Tästä pääset laitteen omalle sivulle

DMP® 10-40-sarja

Pinnoitepaksuuden mittauksen monipuolinen osaaja. Yleiskäyttöinen laitesarja kosketukselliseen pinnoitepaksuuden mittaukseen valtavan laajan anturivalikoiman ansiosta.

DMP®10-40-sarja sopii pinnoitepaksuuden mittaukselle sekä magneettisille että ei-magneettisille pohjamateriaaleille. Kestävä ja moderni muotoilu, optimoidut toiminnot, digitaaliset anturit sekä intuitiivinen Tactile Suite® -ohjelmisto tekevät näistä kompakteista käsikäyttöisistä laitteista täydelliset työkalut kaikkiin mittaustarpeisiin.

DUALSCOPE®
Uusi DUALSCOPE® DMP®40 Fisheriltä asettaa uudet standardit kestävyyden, käyttömukavuuden ja datan viennin osalta, mikä helpottaa päivittäistä laadunvalvontaa tuotannossamme.

FERITSCOPE®  DMP30

Erikoistunut ferriittipitoisuuden mittaukseen.

Kestävä ja tehokas käsikäyttöinen laite tarkkaan ferriitti- ja martensiittipitoisuuden mittaukseen paikan päällä. Soveltuu erinomaisesti paikan päällä tehtäviin mittauksiin esimerkiksi austeniittisissa pinnoitteissa sekä hitsisaumoissa ruostumattomissa teräsputkissa, säiliöissä, kattiloissa tai muissa austeniitista tai duplex-teräksestä valmistetuissa tuotteissa.

 Jopa vaikeapääsyisissä kohdissa digitaaliset ja analogiset anturimme tarjoavat maksimaalista joustavuutta. Intuitiivisen Tactile Suite® -ohjelmiston ansiosta mittausdatan siirtäminen, arviointi ja vienti ei ole koskaan ollut näin kätevää.

MP0®-sarja

Vankka, kätevä ja kevyt – MP0®-sarjan laitteilla mittaat pinnoitteiden paksuudet helposti, nopeasti ja tuhoamatta. Kaksi valaistua näyttöä, kestävä kotelo ja intuitiivinen käyttöliittymä tekevät niistä ihanteellisen kumppanin kenttäkäyttöön.

Dualscope®

Ei-magneettisten tai sähköä johtamattomien pinnoitteiden mittaus magneettisilla tai ei-magneettisilla, sähköä johtavilla pohjamateriaaleilla.

Isoscope®

Sähköä eristävien kerrosten mittaus ei-magneettisilla, sähköä johtavilla metalleilla.

Permascope®

Ei-magneettisten kerrosten mittaus magneettisilla pohjamateriaaleilla.

DUALSCOPE FMP100 ja DUALSCOPE H FMP100

DUALSCOPE® FMP100 ja DUALSCOPE® H FMP150 ovat tehokkaita laitteita, jotka soveltuvat monipuolisesti pinnoitteiden paksuusmittauksiin. Laaja valikoima tarkkuusantureita tekee näistä laitteista välttämättömiä vaativissa ja usein muuttuvissa mittaustehtävissä, kuten autoteollisuudessa, galvanoinnissa tai eloksoinnissa, raskaassa korroosiosuojauksessa tai erittäin ohuiden pinnoitteiden mittauksessa.

DUALSCOPE® FMP100 yhdistää magneettisen induktio- ja pyörrevirtamenetelmät. Pinnoitteet voidaan mitata tarkasti sekä teräkseltä että ei-rautametalleilta ilman, että laitteen asetuksia tarvitsee vaihtaa.

DUALSCOPE® H FMP150 on lisäksi varustettu magneettisella mittausmenetelmällä, jolla voidaan mitata paksuja, ei-magneettisia mutta sähköä johtavia pinnoitteita raudan ja teräksen päällä sekä nikkelipinnoitteita ei-rautametalleilla.

PHASCOPE® PMP10

PHASCOPE® PMP10 -pinnoitepaksuusmittalaite on klassikkomme kaikkein vaativimpiin käyttökohteisiin. Tämä kannettava laite on erityisesti suunniteltu galvanointiteollisuuden ja piirilevyteollisuuden laadunvalvontaan metallipinnoitteiden mittaamisessa. Se soveltuu erinomaisesti nikkelin, sinkin tai kuparin pinnoitepaksuuden mittaukseen teräksellä, erityisesti pienissä osissa tai karheilla pinnoilla. Erityisellä anturisuunnittelulla mittaukset voidaan suorittaa myös piirilevyjen rei'issä.

PHASCOPE® PMP10 DUPLEX

PHASCOPE® PMP10 DUPLEX on kehitetty erityisesti autoteollisuuden tarpeisiin kaksikerros-pinnoitteiden mittaukseen (maali/sinkki teräksellä tai raudalla) tai maalikerrosten mittaukseen alumiinilla. Automaattinen pohjamateriaalin tunnistus helpottaa mittausta teräksellä tai alumiinilla, sillä anturia ei tarvitse vaihtaa.

SIGMASCOPE® SMP350

SIGMASCOPE® SMP350:n avulla voit nopeasti ja tarkasti määrittää kaikkien ei-magneettisten metallien, kuten alumiinin, kuparin ja austeniittisten terästen, sähköisen johtavuuden.

Johtavuuden mittauksen avulla voidaan tehdä päätelmiä materiaalien koostumuksesta, mikrorakenteesta tai mekaanisista ominaisuuksista. Tämä mahdollistaa erittäin laajan kirjon mittaustehtäviä ja käyttökohteita, kuten raaka-aineiden laadunvarmistuksen, lämpökäsiteltyjen materiaalien kovuuden ja lujuuden arvioinnin sekä lämpövaurioiden, materiaaliväsymisen ja halkeamien tarkastuksen.

SIGMASCOPE GOLD B ja SIGMASCOPE GOLD C

SIGMASCOPE® GOLD B- ja SIGMASCOPE® GOLD C -käsilaitteilla voit testata kultakolikoiden, -harkkojen ja jalometallien aitouden nopeasti, helposti ja ei-tuhoavasti sähköistä johtavuutta mittaamalla.

SIGMASCOPE® GOLD B:n avulla voit luotettavasti tarkistaa jopa 17 mm paksujen ja noin kilon painoisten kultaharkkojen aitouden. Vaihtelevan tunkeutumissyvyyden ansiosta testaus onnistuu myös ohuemmille harkoille.

SIGMASCOPE® GOLD C:n avulla voit tarkistaa kolikoiden ja enintään noin 100 gramman painoisten ohuempien harkkojen aitouden. Olipa kyseessä Krugerrand, dukatti, kolikkokulta tai hienokulta – helppokäyttöisellä kultatesterillä tunnistat väärennökset sekunneissa.