Helmut Fischer


Fischer on kehittänyt laitteita materiaalianalyyseihin, pinnoitteen paksuuden mittaamiseen, nanokovuusmittaukseen ja naarmuuntumistesteihin vuodesta 1953 lähtien. Nyt olemme saaneet tämän arvostetun laitevalmistajan analyysilaitteet Holger Hartmann Oy:n valikoimiin.

so

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet ja turvallisuuslaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi

FISCHESCOPE
XRF

FISCHERSCOPE X-RAY on ihanteellinen valinta rikkomattomaan pinnoitteen paksuuden mittaukseen ja materiaalianalyysiin.

Vuodesta 1983 lähtien nämä Fischerin XRF-laitteet ovat olleet olennainen osa laatutestausta melkein kaikilla päätoimialoilla. Laitteet ovat tunnettuja tarkkuudestaan, toistettavuudestaan ja kestävyydestään.

Samaan aikaan FISCHERSCOPE X-RAY -tuotteet on suunniteltu käyttäjäystävällisiksi ja tukemaan sinua kaikilla mittauksen osa-alueilla, joten voit keskittyä laadukkaaseen työhön eikä turhaa aikaa mene mittauslaitteen säätämiseen.

COULOSCOPE  CMS2 ja
FISCHERSCOPE 

Fischerin pöytäyksiköt ylittävät kannettavien laitteiden kyvyt tarjoamalla enemmän ja erilaisia ​​mittaustekniikoita. COULOSCOPE® CMS2: n ja COULOSCOPE® CMS2 STEP: n avulla kirjaimellisesti mikä tahansa metallikerros, jopa monikerroksinen, voidaan mitata miltä tahansa pohjamateriaalilta. FISCHERSCOPE® MMS® PC2 voi käyttää jopa 8 erilaista sähkömagneettista mittaustekniikkaa samanaikaisesti.

Kaikki Fischerin pöytäyksiköt ovat helppokäyttöisiä ja helposti ohjelmoitavissa. Tarjolla on kattavat arviointi- ja tilastotoiminnot sekä monipuoliset tiedonsiirtomuodot.

 

FISCHER NANOINDENTAATIO

Pinnanlaatu määrittelee pitkälti, toimiiko osa suunnitellusti. Mutta miten voit arvioida pinnan laatua?

Tässä haasteessa Fischer tulee avuksi. Fischerin nanokovuus- ja naarmutestilaitteilla voit mitata ohuiden pintakerrosten mekaaniset ominaisuudet tarkasti. Mekaanisten pintaominaisuuksien avulla voit tehdä päätelmiä pinnan suorituskyvystä. Onko lakka riittävän kovettunut kestämään tiettyjä kemikaaleja tai kestämään kivihaketta? Onko TiN-kerroksen tarttuvuus riittävän vahva pysymään kiinni teräsalustassa myös rasituksen aikana?

Fischerin HM- ja ST-sarjat ovat tehokkaita, mutta helppokäyttöisiä laitteita. Tuotevalikoima vaihtelee helppokäyttöisistä laboratoriotestereistä tuotannon laadunvalvontalaitteisiin, jotka voivat mitata useita näytteitä täysin automaattisesti.

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL®holger-hartmann-xul


 

FISCHERSCOPE® X-RAY XUL® -sarjan laitteet sopivat perusvarustukseksi jokaiseen galvanointiyritykseen. Suoraviivaiset ja edulliset ED-XRF-analysaattorit ovat erinomaisia laitteita pinnoitusseoksen koostumuksen seurantaan. Laitteet ovat vankkoja ja sopivat täydellisesti galvaanisten pinnoitteiden mittaamiseen massatuotetuissa osissa, kuten muttereissa ja pulteissa.

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XAN®holgr-hartmann-xan-scanner


 

Kuten XUL-sarja, XRF-spektrometri FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® soveltuu erinomaisesti muodoltaan yksinkertaisten näytteiden analysointiin. XAN-sarjan suuri etu on kuitenkin niiden korkealaatuisissa puolijohdedetektoreissa. Röntgenfluoresenssin (XRF) avulla voit paitsi mitata päällysteiden paksuuden myös analysoida seosten koostumusta.

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL®- ja XDLM®-röntgenfluoresenssispektrometrit (XRF) liittyvät läheisesti XUL-sarjaan. Kaikki näissä sarjoissa käytetään samoja pääkomponentteja, mutta XDL- ja XDLM-laitteet mittaavat ylhäältä alas. Se tarkoittaa ei-tasomaisten näytteiden kätevää XRF-analyysiä - monimutkaiset muodot eivät ole enää ongelma! Ylhäältä alas mitattaessa myös näytteiden automaattinen analysointi on mahdollista. Näytetaso on ohjelmoitavissa mahdollistaen koko pinnan skannauksen.

RS2427_xdlm-pcb-210-scrRS2426_xdlm-pcb-200-scr

 

 

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL®

 

holger-hartmann-xdal-scanner

FISCHERSCOPE® X-RAY XDAL® on XDL-sarjan paras röntgenfluoresenssimittauslaite. XDAL mittaa ylhäältä alas, mikä tekee epäsäännöllisen muotoisten näytteiden testaamisesta helppoa ja kätevää. Mittausolosuhteiden optimoimiseksi FISCHERSCOPE X-RAY XDAL:n vakiovarusteena on vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet.

Mitä vaativampi mittaustehtävä on, sitä suurempi merkitys detektorityypillä on! FISCHERSCOPE X-RAY XDAL tarjoaa 3 erilaista puolijohdedetektoria.

 

 

XDV®-SDD

 

holger-hartmann-xdv-scanner

 

XDV®-SDD on yksi tehokkaimmista Fischer-tuotevalikoiman röntgenfluoresenssianalysaattoreista kerrospaksuuden mittaamiseen. Se on varustettu erityisen herkällä SDD-detektorilla. Laitteen avulla voit mitata myös hyvin ohuita kerroksia ainetta rikkomattomasti - esim. noin 2 nm paksuiset johdinkehysten kultapinnoitteet.

Samanaikaisesti XDV-SDD soveltuu täydellisesti materiaalia rikkomattomattomaan analyysiin. Esimerkiksi sen havaitsemisherkkyys muovista peräisin oleville lyijypitoisuuksille on noin 2 ppm - useita kertaluokkia pienempi kuin RoHS: n tai CPSIA: n vaatimat arvot.

Jotta voit luoda ihanteelliset olosuhteet jokaiselle XRF-mittaukselle, XDV-SDD:ssä on vaihdettavat kollimaattorit ja pääsuodattimet, mikä mahdollistaa työskentelyn tieteellisellä tasolla. Erittäin vankka laite on silti helppo käyttää ja se on suunniteltu erityisesti sarjatestaukseen teollisessa käytössä. Ominaisuudet, kuten sen automaattisesti pidentyvä mittausvaihe ja mittauskohteen reaaliaikainen kuva, tekevät päivittäisestä työstäsi helpompaa.

FISCHERSCOPE X-RAY XDV-μ / XDV-μ LD

 

Fischer on kehittänyt FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: n erityisesti pienimpien rakenteiden ja komponenttien mittaamiseen lyhyillä mittausajoilla. Laitteen detektori ja optiikka

RS2430_xdv-mu-scannermahdollistavat tarkat, toistettavat mittaukset esim. kiinnityspinnoille, pintaliitoskomponenteille tai ohuille johtimille. Myös painettujen piirilevyjen pinnoitteiden tarkka laadunvalvonta hoituu varmistaen niiden pitkän aikavälin toiminnan.

FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® -µ LD on hyvä laite suurten näytteiden mittaamiseen. 12 mm mittausetäisyyden ansiosta jopa kootut piirilevyt voidaan mitata ilman ongelmia.

 

FISCHERSCOPE X-RAY XULM-PCB

 

holger-hartmann-xulm-pcb-scanner

Yksinkertaisia ​​mittauksia ja pistokokeita varten FISCHERSCOPE® X-RAY XULM®-PCB on ihanteellinen XRF-laite. Se on varustettu detektorityypillä, joka lyhentää mittausaikoja. Tätä röntgenfluoresenssilaitetta suositellaan yli 0,1 µm paksujen kerrosten paksuusmittauksiin.

 

SERTIFIOIDUT XRF KALIBROINTISTANDARDIT

 

Vain hyvin kalibroitu mittauslaite tuottaa oikeat tulokset. Kaikki Fischerin kalibrointistandardit on luotu ISO 17025-akkreditoiduissa laboratorioissa.

Sarja sisältää yli 300 kalibrointistandardia pinnoitteen paksuuden mittaamiseen ja materiaalianalyysiin käyttämällä energiadispersiivistä röntgenfluoresenssia (EDXRF). Yksittäisten standardien lisäksi tarjoamme myös referenssimateriaaleja erilaisiin sovelluksiin, kuten RoHS, kulta ja korut tai piirilevyt.

Vaadittavasta jäljitettävyydestä riippuen kalibrointistandardit ovat saatavana joko valmistajan sertifikaatilla tai ISO 17025 -sertifikaatilla. Yhdessä Fischerin asiantuntijoiden kanssa autamme mielellämme valitsemaan oikean kalibrointistrategian.

FISCHERSCOPE® HM2000 S

holger-hartmann-hm2000S

 

 Tarkan mittalaitteen ei tarvitse olla monimutkainen. Tämän kustannustehokkaan laitteen avulla voit nopeasti ja helposti tarkistaa pintakerrosten mekaaniset ja elastiset ominaisuudet yleensä ilman näytteen valmistelua. Aseta näyte yksinkertaisesti mittauspäähän, kiinnitä tukiteline alas ja olet valmis mittaamaan. HM2000 S soveltuu useille teollisuudenaloille, esim. maalin tuotantoon tai galvanointiin. Jos mittausvaatimukset muuttuvat, lähtötason malli voidaan päivittää automaattiseksi HM2000:ksi.

FISCHERSCOPE® HM2000

HM2000
 

Materiaalien testauksessa dynaaminen menetelmä on tullut täydentämään klassista

nanokovuusmittausta. FISCHERSCOPE® HM2000 määrittää viskoelastiset ominaisuudet nanometrin mitta-alueella

Jos haluat mitata näytettä useista pisteistä tai tehdä automaattisen testauksen, FISCHERSCOPE HM2000 on ihanteellinen. Muutamalla napsautuksella voit ohjelmoida mittauspisteet - laite hoitaa loput.

Galvanoinnin laatutestauksen lisäksi FISCHERSCOPE HM2000:n yleinen sovelluskohde on polymeerien karakterisointi eri lämpötiloissa. Tätä tarkoitusta varten automaattinen järjestelmä voidaan varustaa lämmitysvaiheella.

PICODENTOR® HM 500

holger-hartmann-picodentor-hm500

 

PICODENTOR® HM 500 yhdistää huipputeknologian ja helppokäyttöisyyden. Laite on suunniteltu erittäin hienoihin nanokovuustesteihin ja dynaamiseen mekaaniseen analyysiin. Laite mahdollistaa monien materiaaliparametrien – kuten Martens- ja Vickers-kovuuden – tarkan, syvyysriippuvan mittaamisen.

HM500:n erinomainen voima- ja siirtymätarkkuus mahdollistavat pinnoitteiden analysoinnin nanometrin alueella. Tämä tarjoaa tarkkuustason, joka yleensä löytyy vain hyvin monimutkaisista - ja paljon kalliimmista - mittauslaitteista. Automaattisen näytepöydän ja tehokkaan mikroskoopin avulla voit ohjelmoida automaattiset testit vain muutamalla napsautuksella.

FISCHERSCOPE®-ST-sarja

FICHERSCOPE-ST30-scr
 

Naarmutestit simuloivat laboratoriossa erilaisia ​​kuormia, joille pinta normaalisti altistuu jokapäiväisessä elämässä.

FISCHERSCOPE®-ST-sarja on modulaarinen naarmutestijärjestelmä, joka tarjoaa kaksi mallia kattamaan eri mittausalueet. ST30 käyttää pieniä voimia ja on ihanteellinen pehmeiden materiaalien, kuten maalien tai polymeerien, sekä ohutkalvojen testaamiseen puolijohdeteollisuudessa. Koville pinnoitteille ST200 käyttää suurempia voimia.

Tuloksena oleva naarmu arvioidaan ensisijaisesti optisesti. Tätä tarkoitusta varten FISCHERSCOPE ST:ssä on korkean resoluution mikroskooppi, joka voidaan varustaa tarvittaessa jopa kolmella linssillä. Optisen analyysin lisäksi voidaan myös mitata akustista emissiota, tangentiaalista voimaa ja tunkeutumissyvyyttä.

COULOSCOPE® CMS2

Tietyn kerrospaksuuden yläpuolella kerroksen paksuuden rikkomaton mittaus holger-hartmann_COULOSCOPE-CMS2röntgenfluoresenssilla ei ole enää mahdollista. Tämän jälkeen esiin marssii laitteemme COULOSCOPE® CMS2 mittaa melkein minkä tahansa yksi- ja monikerroksisen metallipinnoitteen paksuuden kulometrisen menetelmän avulla. Laite soveltuu erityisesti galvanoitujen päällysteiden laadunvalvontaan sekä piirilevyjen tinan jäännöspaksuuden valvontaan.
 Tämä tehdään yksinkertaisesti poistamalla pinnoite. Monet yleiset yksi- ja monikerroksiset pinnoitteet voidaan mitata tarkasti COULOSCOPE CMS2: lla.

Kulometrinen menetelmä on kustannustehokas, tarkka vaihtoehto röntgenfluoresenssimenetelmälle - edellyttäen, että voit hyväksyä tuhoavan menetelmän pinnoitteen paksuuden mittaamiseen. Se tarjoaa sinulle maksimaalisen joustavuuden, koska sitä voidaan käyttää monenlaisissa pinnoite-tausta-yhdistelmissä. Hyödynnät pinnoitteen paksuuden mittaamisen kulometristä menetelmää erityisesti galvanoitujen päällysteiden laadunvalvonnassa sekä painettujen piirilevyjen tinan jäännöspaksuuden valvonnassa.

FISCHERSCOPE® MMS® PC2

holger-hartmann_MMS PC 2-scr

 

 Fischerin modulaarisen mittausjärjestelmän, FISCHERSCOPE® MMS® PC2, etu on joustavuus sekä pinnoitteen paksuuden mittauksessa että materiaalien testauksessa.

Laite voidaan räätälöidä mittaus- ja testaustarpeisiisi kahdeksan plug-in-moduulin avulla. Esimerkiksi PERMASCOPE®- ja SIGMASCOPE®-laajennuskorttien sekä niiden antureiden kanssa käytettynä voit mitata sekä pinnoitteen paksuuden että sähkönjohtavuuden samalla laitteella. Tämä all-in-one-mittausjärjestelmä säästää aikaa ja rahaa poistamalla erillisten laitteiden tarpeen ja tehostamalla laadunhallintaprosessejasi.

Vaihdettavien korttimoduulien avulla käyttäjä voi suorittaa amplitudi- ja vaiheherkät pyörrevirtamittaukset ja magneettiset induktiomittaukset vaihtamatta instrumentteja. MMS PC2:n joustavuus, tarkkuus ja tiedonkäsittely tekevät siitä täydellisen ratkaisun ainutlaatuisiin pinnoitteen mittaus- ja materiaalitestaustarpeisiisi.

 

 

MMS® Inspection DFT

holger-hartmann-mms-inspection-DFT

 

 

Yksi pinnoitteen paksuuden mittauslaite - erilaisia ​​sovelluksia! MMS® Inspection DFT on monipuolinen pinnoitteen paksuuden mittauksen alalla. Se soveltuu erinomaisesti pinnoitteen paksuuden mittaamiseen sekä teräkselle että raudattomille metalleille, ja sitä voidaan käyttää useilla teollisuudenaloilla. Laite on suojattu pöly- ja vesisuihkuilta IP65-luokitellulla kotelolla.

Helppokäyttöisyyden ja turvallisen tuen ansiosta voit suorittaa vaativimmatkin mittaustehtävät luotettavasti ja nopeasti. Signalointi valon, äänen ja tärinän kautta kertoo välittömästi näyttöä katsomatta, ovatko lukemat toleranssin rajoissa. Pinnoitteen paksuuden mittaus on standardien DIN EN ISO 2178 ja ASTM D7091 tai DIN EN ISO 2360 ja ASTM D7091 mukainen.

MMS® Inspection DPM

Holger-hartmann-inspection-dpm

 

 

Tämän kastepistemittarin avulla voit helposti seurata pinnoiteprosesseihin liittyviä ympäristön olosuhteita. MMS® Inspection DPM mittaa luotettavasti suhteellisen kosteuden, ilman lämpötilan ja pintalämpötilan, joten voit helposti laskea kastepisteen hetkessä.

Kastepistemittari on erittäin kestävä, pölytiivis ja suojattu vesisuihkuilta (IP65). Sen kompakti muotoilu ja neljä suurta nappia mahdollistavat helpon käytön yhdellä kädellä. Se onkin ihanteellinen käytettäväksi vaativimmissakin olosuhteissa, esimerkiksi raskaassa korroosiosuojauksessa. Valo- ja äänisignaalien avulla sinulla on aina yleiskuva mitatuista kastepistearvoista.

MMS® Inspection SPG

 

 

holger-hartmann-inspection-spgMMS® Inspection SPG:n avulla pintatarkastukset voidaan suorittaa hetkessä. Tämä

kannettava laite määrittää pinnan profiilin tarkasti ja nopeasti. LED-valon, äänen ja tärinän avulla voit heti selvittää, onko lukema määritelmän mukainen vai ei. Profiilimittaukset ovat muun muassa standardien ASTM 4417-B ja SSPC-PA 17 mukaisia.

Pintaprofiilimittari pysyy käsissäsi epäsuotuisimmissakin olosuhteissa: Sen ergonominen muotoilu ja neljä toimintonäppäintä tekevät siitä helppokäyttöisen yhdellä kädellä - myös käsineitä käytettäessä. Pöly- ja vedenpitävä kotelo (IP65) suojaa pintaprofiilimittaria, joten saat aina luotettavat mittaustulokset työskentelyolosuhteista riippumatta.

MP0- ja MP0R-sarjat

 

holger-hartmann-mp0-mp0r

Käytännöllinen käyttää, rakennettu kestämään. MP0- ja MP0R-sarjojen pinnoitepaksuusmittarit ovat kompakti ratkaisu luotettavaan korroosiosuojaukseen. Kaksoisnäytöillä, kestävillä koteloilla ja kulutusta kestävillä anturikärjillä varustettuina ne ovat ihanteellinen valinta kentällä tehtäviin mittauksiin.

 

PERMASCOPE® MP0- ja MP0R-malleilla voit mitata tarkasti teräksen ja raudan maalipaksuudet. ISOSCOPE® MP0R:n avulla voit mitata päällysteitä käytännössä kaikilta raudattomilta metalleilta. DUALSCOPE® MP0- ja MP0R-mallien etuna puolestaan on ylivoimainen joustavuus: riippumatta siitä, onko pinnoite teräksellä vai raudattomalla metallilla, oikea mittausmenetelmä valitaan automaattisesti alustan mukaan.

FMP10 - FMP40 -sarjat 

holger-hartmann-fmp10-fmp40

 

FMP-tuoteperheen kannettavat pinnoitteen paksuusmittarit sopivat sekä aloittelijoille että kokeneille käyttäjille. Yli 70 mittapään avulla löydät sopivan ratkaisun melkein mihin tahansa mittaustehtävään. Erilaisilla testausmenetelmillä varmistetaan pinnoitteen paksuuden tarkat mittaukset teräksellä ja raudattomilla metalleilla. FMP10 - FMP40 -sarjojen käsilaitteet tarjoavat täten äärimmäistä joustavuutta pinnoitepaksuuden mittaustarpeisiin.

Tarjoamme pinnoitteen paksuusmittareita seuraavilla mittausmenetelmillä: DELTASCOPE® magneettisella induktiolla, ISOSCOPE® pyörrevirralla ja DUALSCOPE® sekä magneettisella induktiomenetelmällä että pyörrevirtausmenetelmällä.

DUALSCOPE FMP100 ja DUALSCOPE H FMP150

 

 

holger-hartmann-dualscope-fmp100-dualscope-fmp150

Fischerin DUALSCOPE® FMP100- ja DUALSCOPE® H FMP150 -malleilla saavutetaan maksimaalinen joustavuus pinnoitteen paksuuden mittauksessa, täyttäen samalla korkeimmatkin tarkkuuden ja toistettavuuden vaatimukset. Ne yhdistävät induktiivisen mittausmenetelmän ja pyörrevirtaisen testausmenetelmän yhdessä pinnoitepaksuusmittauksessa, joten voit mitata pinnoitteen paksuudet sekä teräksestä että raudattomista metalleista vaihtamatta laitetta. DUALSCOPE H FMP150 tarjoaa myös magneettisen menetelmän. Tämän avulla voit mitata mm. raudattomien metallien tai sähköeristeiden nikkelikerroksia.

DUALSCOPE FMP100 ja DUALSCOPE H FMP150 ovat ihanteellisia laadunvarmistuksen edistyneimmille mittaussovelluksille. Voit käyttää näitä kannettavia laitteita esimerkiksi maalikalvon paksuuden mittaamiseen. Voit jopa mitata CDC-pinnoitteet helposti ja tarkasti. Kosketusnäytöllä ja Windows ™ CE -käyttöjärjestelmällä varustetut instrumentit ovat nopeita ja intuitiivisia käyttää. Suuren muistinsa ansiosta ne voivat käsitellä useita tuhansia mittaustehtäviä useilla tuhansilla mitatuilla arvoilla.

Mittausten arvioimiseksi on käytettävissä erilaisia ​​tilastollisia ja analyyttisiä toimintoja. Laitteissa ​​on patentoitu tehdasdiagnoosikaavio (FDD), joka visualisoi prosessin ja tarjoaa graafisen yleiskuvan tuotantomuuttujien, kuten kerroksen paksuuden, jakautumisesta.

 

PHASCOPE® PMP10

holger-hartmann_PHASCOPE PMP10

 

PHASCOPE® PMP10 -laitteen kaltaisen kädessä pidettävän pinnoitteen paksuusmittarin

avulla galvanoitujen pinnoitteiden mittaaminen on helppoa pienillekin galvanoiduille osille, kuten muttereille, pulteille ja ruuveille. Laite on monipuolinen ja helppokäyttöinen. Sillä voi määrittää myös raudattomien metallipinnoitteiden paksuuden esimerkiksi eristävillä alustoilla, kuten PCB-levyillä, tai nikkelin teräksellä, sinkin tai kuparin teräksellä ja kuparin messingillä tai pronssilla.

PHASCOPE PMP10:llä on useita ominaisuuksia, jotka säästävät aikaa ja voivat parantaa galvanoinnin toimintojen laadunvarmistusprosesseja. Yhdistettynä ESD2.4-anturiin se antaa sinun mitata pinnoitteet nopeasti pienistä osista, koska mittauspisteen geometrian uudelleenkalibrointia ei yleensä tarvita. Myöskään karkeat pinnat eivät heikennä mittausten tarkkuutta.

PHASCOPE PMP10 käyttää vaiheherkkää pyörrevirtamenetelmää, joka on ihanteellinen pienille esineille, kuten muttereille ja pulteille, koska testikappaleen muoto vaikuttaa hyvin vähän itse mittaukseen. Tämä menetelmä mahdollistaa myös kosketuksettoman mittauksen: esimerkiksi kuparipinnoitteen paksuuden määrittäminen piirilevyllä - suojamaalipinnoitteen läpi.

PHASCOPE® PMP10 DUPLEX

holger-hartmann-phascope-pmp10-duplex

 

Etsitkö auton maalipaksuusmittaria kaksoispinnoitteiden (maali / sinkki) mittaamiseksi

alumiinista tai galvanoidusta teräksestä valmistetuille alustoille? Vastaus on Fischerin PHASCOPE® PMP10 DUPLEX. Autoteollisuus pitää sitä parhaimpana maalimittarina metallilevyjen, jarruputkien, lankojen ja muiden tyypillisten sovellusten käsittelyyn.

Yhdistettynä ESG20-anturiin PHASCOPE PMP10 DUPLEX tarjoaa monia ominaisuuksia, jotka voivat säästää aikaa ja parantaa autoteollisuuden laadunvarmistusprosesseja. Tämä paksuusmittari mittaa sekä maali- että sinkkikerrokset yhdellä kertaa - ja näyttää ne erikseen näytöllä. Automaattinen pohjamateriaalin tunnistusominaisuus tekee mittaamisesta helppoa ilman, että antureita on vaihdettava.

PHASCOPE PMP10 DUPLEX yhdistää kolme erilaista menetelmää autojen kaksipuolisten pinnoitteiden mittaamiseen. DIN EN ISO 2178 -standardin mukainen magneettinen induktiomenetelmä mittaa raudan maali- / sinkkipinnoitteiden kokonaispaksuuden. Amplitudiherkkä pyörrevirtamenetelmä, DIN EN ISO 2360, mittaa yhden maalikerroksen alumiinilla. Vaiheherkkä pyörrevirtausmenetelmä ISO 21968 mittaa vain raudan sinkkipinnoitteet huomioimatta mahdollisia päällekkäisiä maalikerroksia.

SIGMASCOPE® SMP350

holger-hartmann-sigmascope-smp350

 

 

SIGMASCOPE® SMP350 on kompakti kannettava laite värimetallien sähkönjohtavuuden

mittaamiseen. Se mittaa nopeasti ja tarkasti alumiinin tai kuparin sähkönjohtavuutta. Mitatun johtavuuden perusteella voit tehdä lisää johtopäätöksiä lämpökäsiteltyjen materiaalien kovuudesta ja lujuudesta. Näin voit seurata suurille lämpötilan vaihteluille altistuvien komponenttien stabiilisuutta. Jopa lämpövahingot ja materiaalien väsyminen voidaan määrittää yksinkertaisesti tällä tavalla.

Sähkönjohtavuuden mittaamiseksi laite käyttää vaiheherkkää pyörrevirtamenetelmää (standardien DIN EN 2004-1 ja ASTM E1004 mukaan). Menetelmän avulla on mahdollista mitata sähkönjohtavuutta jopa 500 µm paksun maali- tai muovipinnoitteen läpi. Se minimoi myös pinnan karheuden vaikutuksen.

 

SIGMASCOPE GOLD B ja SIGMASCOPE GOLD C

 

Käsilaitteiden SIGMASCOPE GOLD B ja SIGMASCOPE GOLD C avulla voit tarkistaa kullan aitouden milloin tahansa - nopeasti ja tarkasti. Johtokykyä käyttämällä nämä kultatesterit osoittavat luotettavasti, onko näytteessä vieraita materiaaleja, kuten volframia. Kullan aitoustestaus on siten rikkomaton eikä aiheuta materiaalin tai arvon menetystä.

SIGMASCOPE GOLD B on kehitetty erityisesti kultaharkkojen analysointiin. Vaikka tämä

kädessä pidettävä laite voi mitata jopa 17 mm paksuja tankoja, sen muuttuvat tunkeutumissyvyysasetukset mahdollistavat myös ohuempien tankojen testaamisen.

SIGMASCOPE GOLD C on kädessä pidettävä laite kultakolikoiden ja ohuiden tankojen (enintään noin 100 g) aitouden tarkistamiseksi. Olipa kyseessä Krugerrandit, dukatit, kolikkokulta tai hienokulta - tämän helppokäyttöisen kultatesterin avulla tiedät heti, onko kimallus todella kultaa.



holger-hartmann-SigmascopeGOLD holger-hartmann_Sigmascope-Gold-C

 

 

FERITSCOPE® FMP30 

holger-hartmann-feritscope-fmp30

 

Joskus tarkan ferriittipitoisuuden tunteminen on välttämätöntä. Varsinkin silloin, kun austeniittisten terästen ja dupleksiterästen on kestettävä kuumuutta, aggressiivisia kemikaaleja ja/tai korkeaa painetta.

FERITSCOPE® FMP30 avulla voit mitata ferriittipitoisuutta missä ja milloin tahansa - se on nopea, tarkka ja ainetta rikkomaton. Vankan kädettä pidettävän laitteen edut tulevat esiin, kun sitä käytetään kemian-, energia- ja prosessiteknisissä laitoksissa. Laaja valikoima Fischer-mittapäitä helpottaa ferriittipitoisuuden mittaamista, vaikka mittapistettä olisi vaikea saavuttaa.

 

 

 

 

 

 

Rahoitus_ukot.jpg

Rahoitus

Tarjoamme kaikkiin meiltä hankittaviin koneisiin ja laitteisiin rahoitusta yhteistyökumppaniemme kautta. Kysy lisää.

Safety_firs_ukko.jpg

Turvallisuus

Analyysilaitteiden hankinnassa täytyy ottaa huomioon myös käyttäjien turvallisuus. Hankkiessanne käyttöönne XRF-analysaattorin tai läpivalaisulaitteen, yrityksenne täytyy hankkia turvallisuuslupa Säteilyturvakeskukselta (STUK). Holger Hartmann Oy auttaa teitä säteilyturvallisuuslupa-asioissa eteenpäin.

Huoltoukot.jpg

Huolto

Toimimme täyden palvelun laitetoimittajana ja pidämme huolta laitteesta sekä käyttäjästä koko laitteen elinkaaren ajan. Analyysilaitteisiin tarjoamme täyden palvelun huollon Tampereelta käsin ja turvatekniikan laitteisiin Vantaalta käsin. Raskaisiin koneisiin tarjoamme varaosapalvelun sekä tehtaan huolto-ohjeet teidän omalle huolto-organisaatiollenne.

Lue lisää huoltopalvelustamme >

Koulutuspalvelut.jpg

Koulutuspalvelut

Saatte meiltä kattavan käyttökoulutuksen hankkiessanne laitteen meidän kauttamme. Tarjoamme sekä henkilökohtaista koulutuspalvelua että verkkokursseja. Käy tutustumassa verkkokoulutustarjontaamme. 

Lue lisää koulutuspalveluistamme >