XDV®-SDD on yksi tehokkaimmista Fischer-tuotevalikoiman röntgenfluoresenssianalysaattoreista kerrospaksuuden mittaamiseen. Se on varustettu erityisen herkällä SDD-detektorilla. Laitteen avulla voit mitata myös hyvin ohuita kerroksia ainetta rikkomattomasti - esim. noin 2 nm paksuiset johdinkehysten kultapinnoitteet.

Samanaikaisesti XDV-SDD soveltuu täydellisesti materiaalia rikkomattomattomaan analyysiin. Esimerkiksi sen havaitsemisherkkyys muovista peräisin oleville lyijypitoisuuksille on noin 2 ppm - useita kertaluokkia pienempi kuin RoHS: n tai CPSIA: n vaatimat arvot.

Jotta voit luoda ihanteelliset olosuhteet jokaiselle XRF-mittaukselle, XDV-SDD:ssä on vaihdettavat kollimaattorit ja pääsuodattimet, mikä mahdollistaa työskentelyn tieteellisellä tasolla. Erittäin vankka laite on silti helppo käyttää ja se on suunniteltu erityisesti sarjatestaukseen teollisessa käytössä. Ominaisuudet, kuten sen automaattisesti pidentyvä mittausvaihe ja mittauskohteen reaaliaikainen kuva, tekevät päivittäisestä työstäsi helpompaa.