SmartLab

Edistyksellinen huipputason korkean resoluution XRD-järjestelmä, jota ohjaa Guidance-asiantuntijajärjestelmäohjelmisto.  

SmartLab SE

Erittäin monipuolinen monikäyttöinen röntgendiffraktometri, jossa on sisäänrakennettu älykäs ohjaus. 

MiniFlex

Edistyksellinen laadunvalvontajärjestelmä. Uusi kuudennen sukupolven yleiskäyttöinen pöytämallinen XRD-järjestelmä. 

MiniFlex XpC

 Edistyksellinen laadunvalvontajärjestelmä. Kompakti röntgendiffraktometri materiaalien laadunvalvontaan – helppokäyttöinen ja ihanteellinen rutiinityöhön. 

DicifferX WAXS Edition

Laajakulmaisen röntgensironnan (WAXS) järjestelmä polymeerimateriaalien rakenteiden selvittämiseen. 

 ZSX Primus IV

 Yläpuolisella putkella varustettu sekventiaalinen WDXRF-spektrometri.

Alkuaineanalyysi kiinteille, nesteille, jauheille, metalliseoksille ja ohutkalvoille

Rigaku ZSX Primus IV on yläpuolisella röntgenputkella varustettu sekventiaalinen WDXRF-spektrometri, joka mahdollistaa pää- ja hivenalkuaineiden nopean kvantitatiivisen määrityksen berylliumista (Be) uraaniin (U) erilaisista näytetyypeistä – minimaalisella standardimäärällä.

ZSX Primus III NEXT

 Yläpuolisella putkella varustettu sekventiaalinen WDXRF-spektrometri teollisuussovelluksiin.

Alkuaineanalyysi kiinteille näytteille

Rigaku ZSX Primus III NEXT tarjoaa nopean ja luotettavan teollisen laadunvalvonnan määrittämällä kvantitatiivisesti pää- ja sivuainemäärät berylliumista (Be) curiumiin (Cm) jauhe- ja kiinteistä näytteistä.

Tämä uusi skannaava WDXRF-spektrometri hyödyntää Rigakun ainutlaatuista yläpuolista röntgenputkirakennetta ja perustuu menestyksekkääseen ZSX Primus -tuotealustaan.

ZSX Primus IV𝒾

 Alapuolisella putkella varustettu sekventiaalinen WDXRF-spektrometri.

Tinkimätön röntgenanalyysi nesteille, seoksille ja pinnoitetuille metalleille

Tämä korkean suorituskyvyn malli, jossa röntgenputki sijaitsee näytteen alapuolella, mahdollistaa tinkimättömän analyysin esimerkiksi nesteille, metalliseoksille ja pinnoitetuille metalleille.

Supermini200

Tehokas pöytämallinen sekventiaalinen WDXRF-spektrometri.

Alkuaineanalyysi kiinteille, nesteille, jauheille, metalliseoksille ja ohutkalvoille.

Tämä tehokas pöytämallinen sekventiaalinen WDXRF-spektrometri soveltuu alkuaineanalyysiin hapesta (O) uraaniin (U) lähes kaikissa materiaaleissa. Supermini200 yhdistää korkean resoluution ja matalat määritysrajat (LLD) alhaisiin elinkaarikustannuksiin (COO). 

Simultix 15

Korkean läpimenon alkuaineanalyysi kiinteille näytteille, jauheille ja metalliseoksille

Kompakti ja älykäs Simultix 15 on tehokas analyysityökalu, joka tarjoaa erinomaista suorituskykyä useilla teollisuudenaloilla ja mahdollistaa nopean, suuren näytemäärän analysoinnin.

ZSX Primus 400

Alkuaineanalyysi kiinteille, nesteille, jauheille, metalliseoksille ja ohutkalvoille

Rigakun ainutlaatuinen ZSX Primus 400 on suunniteltu erityisesti erittäin suurten ja/tai raskaiden näytteiden analysointiin. Laite hyväksyy jopa 400 mm halkaisijaltaan, 50 mm paksuja ja 30 kg painavia näytteitä.

Se soveltuu erinomaisesti esimerkiksi sputterointikohteiden, magneettilevyjen, monikerroskalvojen metrologiaan sekä suurikokoisten näytteiden alkuaineanalyyseihin.

Micro-Z ULS

Erittäin matalien rikkipitoisuuksien (ULS) määritys polttoaineista ASTM D2622-10 -standardin mukaisesti

Rigaku Micro-Z ULS on suunniteltu dieselin, bensiinin ja muiden polttoaineiden erittäin matalien rikkipitoisuuksien analysointiin. Laitteen innovatiivinen rakenne mittaa sekä rikin huipun että taustaintensiteetin.

Taustaintensiteetin muutosten mittaus ja korjaus mahdollistavat tarkemman nettosignaalin, mikä parantaa kalibrointien laatua ja käytännön mittaustarkkuutta.

Laite täyttää ASTM 2622-10-, ISO 20884- ja JIS K2541-7 -standardien vaatimukset.

Micro-Z CL

Erittäin matalien klooripitoisuuksien analysointi öljytuotteista ja vastaavista materiaaleista

Rikkikorjaus voidaan suorittaa myös näytteille, joiden rikkipitoisuutta ei tunneta, mikä parantaa määrityksen luotettavuutta.

Laite ei vaadi kallista heliumia, sillä näytteen ja optisen kammion välinen erotinyksikkö pitää optiikan tyhjiössä.