- Teollisuus
- Turvallisuus
- Kierrätys
- Tuotteet
- Yritys
- Blogi
- Ota yhteyttä
Fischer on kehittänyt FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ: n erityisesti pienimpien rakenteiden ja komponenttien mittaamiseen lyhyillä mittausajoilla. Laitteen detektori ja optiikka mahdollistavat tarkat, toistettavat mittaukset esim. kiinnityspinnoille, pintaliitoskomponenteille tai ohuille johtimille. Myös painettujen piirilevyjen pinnoitteiden tarkka laadunvalvonta hoituu varmistaen niiden pitkän aikavälin toiminnan.
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV® -µ LD on hyvä laite suurten näytteiden mittaamiseen. 12 mm mittausetäisyyden ansiosta jopa kootut piirilevyt voidaan mitata ilman ongelmia.
Santtu Ojala
Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet
010 526 3987
santtu.ojala(at)holger.fi
FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-µ LD/ Esite englanniksi
Tarjoamme kaikkiin meiltä hankittaviin koneisiin ja laitteisiin rahoitusta yhteistyökumppaniemme kautta. Kysy lisää.
Analyysilaitteiden hankinnassa täytyy ottaa huomioon myös käyttäjien turvallisuus. Hankkiessanne käyttöönne XRF-analysaattorin tai läpivalaisulaitteen, yrityksenne täytyy hankkia turvallisuuslupa Säteilyturvakeskukselta (STUK). Holger Hartmann Oy auttaa teitä säteilyturvallisuuslupa-asioissa eteenpäin.
Toimimme täyden palvelun laitetoimittajana ja pidämme huolta laitteesta sekä käyttäjästä koko laitteen elinkaaren ajan. Analyysilaitteisiin tarjoamme täyden palvelun huollon Tampereelta käsin ja turvatekniikan laitteisiin Vantaalta käsin. Raskaisiin koneisiin tarjoamme varaosapalvelun sekä tehtaan huolto-ohjeet teidän omalle huolto-organisaatiollenne.
Saatte meiltä kattavan käyttökoulutuksen hankkiessanne laitteen meidän kauttamme. Tarjoamme sekä henkilökohtaista koulutuspalvelua että verkkokursseja. Käy tutustumassa verkkokoulutustarjontaamme.
Sivustollamme käytetään evästeitä, jotta sivuston käyttö olisi sinulle mahdollisimman sujuvaa. Jatkamalla sivustomme käyttämistä hyväksyt evästeet.
Lue tietosuojaselosteestamme, miten käsittelemme evästeisiin liitettyjä tietoja.
.jpg "XDV")