Elektroniikka- ja puolijohdeteollisuudessa puhutaan usein mittakaavoista, joita on vaikea edes kuvitella. Kun kultapinnoitteen paksuus mitataan nanometreissä, ei tavallinen mittalaite enää riitä. Tässä kohtaa kuvaan astuu FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD – laite, joka tuo tieteellisen tarkkuuden suoraan teollisuuden linjastolle.
Kyseessä ei ole vain mittalaite, vaan strateginen investointi laadunvarmistukseen, jossa virhemarginaalit on painettu minimiin ja tehokkuus maksimiin.

.jpg)





