FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD – Äärimmäistä tarkkuutta ja tehokkuutta pinnoiteanalyyseihin

 

Kun tavoitteena on nopeus, luotettavuus ja poikkeuksellinen mittaustarkkuus, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD on oikea valinta. Tämä Fischerin huippumalli on suunniteltu täyttämään tieteellisen tason vaatimukset – oli kyseessä sitten ohutkalvojen mittaus, haitta-aineiden tunnistus tai suurivolyymiset sarjatestaukset.

 

 

Tarkkuutta nanometrin tasolla

XDV®-SDD on varustettu erittäin herkällä SDD-detektorilla, joka mahdollistaa jopa noin 2 nanometrin paksuisten pinnoitteiden mittaamisen aineen rakenteeseen kajoamatta. Tämä tekee siitä täydellisen ratkaisun mikrokerrosten mittaukseen esimerkiksi elektroniikka- ja puolijohdeteollisuudessa, laadunvalvonnassa ja tutkimus- ja kehitystyössä.

Myös haitta-aineiden tarkkaan tunnistukseen

Laite tunnistaa haitalliset aineet kuten lyijyn jopa 2 ppm pitoisuuksina, mikä ylittää selvästi RoHS- ja CPSIA-direktiivien vaatimukset. Tämä tekee XDV®-SDD:stä erinomaisen valinnan myös tuoteturvallisuuden ja vaatimustenmukaisuuden seurantaan.

 Suunniteltu tehokkuuteen – mittaa useita näytteitä nopeasti

XDV®-SDD on optimoitu teolliseen sarjatestaukseen. Laitteessa on:

  • Vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet – mittausolosuhteet räätälöitävissä näytteen mukaan

  • Automaattinen mittauspään ohjaus ja kuva – tarkka mittaus juuri oikeasta kohdasta

  • Lyhyet mittausajat – lisäävät tuottavuutta

  • Täysin automatisoitavissa – mittaa useita näytteitä yhdellä painalluksella

Älykästä analytiikkaa – DPP+ vie mittaukset uudelle tasolle

Fischerin kehittämä DPP+ -pulssiprosessori mahdollistaa suuremman signaalinkäsittelykyvyn. Tämä tarkoittaa joko:

  • entistä lyhyempiä mittausaikoja tai

  • parempaa toistettavuutta ja tarkkuutta mittaustuloksissa.

Laatuinvestointi, joka maksaa itsensä takaisinxdv-sdd

XDV®-SDD on suunniteltu kestämään vaativatkin käyttöolosuhteet, ja se sopii täydellisesti tilanteisiin, joissa tarvitaan äärimmäistä mittaustarkkuutta ja prosessien tehostamista.

  • Ohutkalvomittaukset (nanometritasolla)
  • RoHS-yhteensopivuuden varmistus
  • Muovien ja metallien analysointi
  • Teollisuuden automatisoidut testiprosessit

Ota yhteyttä – autamme mielellämme!

 

so-1

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi

 

 

 

Topics: holgerhartmann analysaattori #XRFanalysaattori HelmutFischer KerrospaksuudenMittaus xdvsdd