Kun tavoitteena on nopeus, luotettavuus ja poikkeuksellinen mittaustarkkuus, FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD on oikea valinta. Tämä Fischerin huippumalli on suunniteltu täyttämään tieteellisen tason vaatimukset – oli kyseessä sitten ohutkalvojen mittaus, haitta-aineiden tunnistus tai suurivolyymiset sarjatestaukset.
XDV®-SDD on varustettu erittäin herkällä SDD-detektorilla, joka mahdollistaa jopa noin 2 nanometrin paksuisten pinnoitteiden mittaamisen aineen rakenteeseen kajoamatta. Tämä tekee siitä täydellisen ratkaisun mikrokerrosten mittaukseen esimerkiksi elektroniikka- ja puolijohdeteollisuudessa, laadunvalvonnassa ja tutkimus- ja kehitystyössä.
Laite tunnistaa haitalliset aineet kuten lyijyn jopa 2 ppm pitoisuuksina, mikä ylittää selvästi RoHS- ja CPSIA-direktiivien vaatimukset. Tämä tekee XDV®-SDD:stä erinomaisen valinnan myös tuoteturvallisuuden ja vaatimustenmukaisuuden seurantaan.
XDV®-SDD on optimoitu teolliseen sarjatestaukseen. Laitteessa on:
Vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet – mittausolosuhteet räätälöitävissä näytteen mukaan
Automaattinen mittauspään ohjaus ja kuva – tarkka mittaus juuri oikeasta kohdasta
Lyhyet mittausajat – lisäävät tuottavuutta
Täysin automatisoitavissa – mittaa useita näytteitä yhdellä painalluksella
Fischerin kehittämä DPP+ -pulssiprosessori mahdollistaa suuremman signaalinkäsittelykyvyn. Tämä tarkoittaa joko:
entistä lyhyempiä mittausaikoja tai
parempaa toistettavuutta ja tarkkuutta mittaustuloksissa.
XDV®-SDD on suunniteltu kestämään vaativatkin käyttöolosuhteet, ja se sopii täydellisesti tilanteisiin, joissa tarvitaan äärimmäistä mittaustarkkuutta ja prosessien tehostamista.
Santtu Ojala
Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet
010 526 3987
santtu.ojala(at)holger.fi