---
title: FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD – Äärimmäistä tarkkuutta ja tehokkuutta pinnoiteanalyyseihin
description: XDV®-SDD mahdollistaa jopa noin 2 nanometrin paksuisten johdinkehysten kultapinnoitteiden tarkan mittauksen – täysin ainetta rikkomatta.
---

[Blogi | Holger Hartmann Oy ](https://www.holgerhartmann.fi/blogi)

# [FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD – Äärimmäistä tarkkuutta ja tehokkuutta pinnoiteanalyyseihin](https://www.holgerhartmann.fi/blogi/fischerscope-x-ray-xdv-sdd-äärimmäistä-tarkkuutta-ja-tehokkuutta-pinnoiteanalyyseihin)

 Kirjoittanut [Tanja Siuvatti](https://www.holgerhartmann.fi/blogi/author/tanja-siuvatti) | 12.6.2025 7:00

Kun tavoitteena on nopeus, luotettavuus ja poikkeuksellinen mittaustarkkuus, **FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD** on oikea valinta. Tämä Fischerin huippumalli on suunniteltu täyttämään **tieteellisen tason vaatimukset** – oli kyseessä sitten ohutkalvojen mittaus, haitta-aineiden tunnistus tai suurivolyymiset sarjatestaukset.

 

 

### Tarkkuutta nanometrin tasolla

XDV®-SDD on varustettu erittäin herkällä **SDD-detektorilla**, joka mahdollistaa jopa **noin 2 nanometrin** paksuisten pinnoitteiden mittaamisen **aineen rakenteeseen kajoamatta**. Tämä tekee siitä täydellisen ratkaisun mikrokerrosten mittaukseen esimerkiksi elektroniikka- ja puolijohdeteollisuudessa, laadunvalvonnassa ja tutkimus- ja kehitystyössä.

### Myös haitta-aineiden tarkkaan tunnistukseen

Laite tunnistaa **haitalliset aineet kuten lyijyn** jopa **2 ppm** pitoisuuksina, mikä ylittää selvästi RoHS- ja CPSIA-direktiivien vaatimukset. Tämä tekee XDV®-SDD:stä erinomaisen valinnan myös tuoteturvallisuuden ja vaatimustenmukaisuuden seurantaan.

###  Suunniteltu tehokkuuteen – mittaa useita näytteitä nopeasti

XDV®-SDD on optimoitu **teolliseen sarjatestaukseen**. Laitteessa on:

- **Vaihdettavat kollimaattorit ja suodattimet** – mittausolosuhteet räätälöitävissä näytteen mukaan
- **Automaattinen mittauspään ohjaus ja kuva** – tarkka mittaus juuri oikeasta kohdasta
- **Lyhyet mittausajat** – lisäävät tuottavuutta
- **Täysin automatisoitavissa** – mittaa useita näytteitä yhdellä painalluksella

### Älykästä analytiikkaa – DPP+ vie mittaukset uudelle tasolle

Fischerin kehittämä **DPP+ -pulssiprosessori** mahdollistaa suuremman signaalinkäsittelykyvyn. Tämä tarkoittaa joko:

- **entistä lyhyempiä mittausaikoja** tai
- **parempaa toistettavuutta ja tarkkuutta** mittaustuloksissa.

### Laatuinvestointi, joka maksaa itsensä takaisin

XDV®-SDD on suunniteltu **kestämään vaativatkin käyttöolosuhteet**, ja se sopii täydellisesti tilanteisiin, joissa tarvitaan äärimmäistä mittaustarkkuutta ja prosessien tehostamista.

- Ohutkalvomittaukset (nanometritasolla)
- RoHS-yhteensopivuuden varmistus
- Muovien ja metallien analysointi
- Teollisuuden automatisoidut testiprosessit

### Ota yhteyttä – autamme mielellämme!

 

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi

 

 

 

[Näytä koko julkaisu](https://www.holgerhartmann.fi/blogi/fischerscope-x-ray-xdv-sdd-äärimmäistä-tarkkuutta-ja-tehokkuutta-pinnoiteanalyyseihin)

```json
{
  "@context" : "http://schema.org",
  "@type" : "BlogPosting",
  "author" : {
    "@type" : "Person",
    "name" : "Tanja Siuvatti"
  },
  "dateModified" : "2025-06-12T07:00:00.534Z",
  "datePublished" : "2025-06-12T07:00:00Z",
  "headline" : "FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD – Äärimmäistä tarkkuutta ja tehokkuutta pinnoiteanalyyseihin",
  "image" : {
    "@type" : "ImageObject",
    "height" : 234,
    "url" : "https://www.holgerhartmann.fi/hubfs/xdv-sdd.png",
    "width" : 250
  },
  "mainEntityOfPage" : "https://www.holgerhartmann.fi/blogi/fischerscope-x-ray-xdv-sdd-äärimmäistä-tarkkuutta-ja-tehokkuutta-pinnoiteanalyyseihin",
  "publisher" : {
    "@type" : "Organization",
    "logo" : {
      "@type" : "ImageObject",
      "height" : 60,
      "url" : "/hs/hsstatic/content_shared_assets/static-1.4092/img/default-amp-logo.png",
      "width" : 60
    },
    "name" : "Blogi"
  }
}
```