Elektroniikka- ja puolijohdeteollisuudessa puhutaan usein mittakaavoista, joita on vaikea edes kuvitella. Kun kultapinnoitteen paksuus mitataan nanometreissä, ei tavallinen mittalaite enää riitä. Tässä kohtaa kuvaan astuu FISCHERSCOPE® X-RAY XDV®-SDD – laite, joka tuo tieteellisen tarkkuuden suoraan teollisuuden linjastolle.

Kyseessä ei ole vain mittalaite, vaan strateginen investointi laadunvarmistukseen, jossa virhemarginaalit on painettu minimiin ja tehokkuus maksimiin.

Millimetreistä nanometreihin – ainetta rikkomatta 

XDV®-SDD:n sydän on sen huippuherkkä SDD-detektori. Se mahdollistaa jopa 2 nanometrin paksuisten kerrosten analysoinnin. Vertailun vuoksi: hius on noin 80 000 nanometriä paksu, joten puhumme todella pienistä asioista!

Mikä parasta, mittaus on täysin rikkomaton. Voit tarkastaa kalleimmatkin komponentit ilman pelkoa niiden vaurioitumisesta.

RoHS-vaatimukset ja turvallisuus: 2 ppm tarkkuus 

Laitteen kyvyt eivät rajoitu vain pinnoitteisiin. Se on todellinen mestari haitallisten aineiden, kuten lyijyn, tunnistamisessa esimerkiksi muoveista.

• Sen havaintokyky yltää jopa 2 ppm (parts per million) -tasolle.
• Tämä on moninkertaisesti tarkempi kuin tiukimmatkaan RoHS- tai CPSIA-direktiivit vaativat.
• Voit siis nukkua yösi rauhassa tietäen, että tuoteturvallisuutesi on aukotonta.

Sarjatestauksen sankari ja digitaalinen edelläkävijä 

Teollisuudessa nopeus on valuuttaa. Fischerin kehittämä DPP+ (Digital Pulse Processor) -teknologia käsittelee signaalit salamannopeasti. Käytännössä tämä tarkoittaa sinulle kahta vaihtoehtoa:

1. Lyhyemmät mittausajat: Enemmän testattuja osia samassa ajassa.
2. Parempi toistettavuus: Vieläkin varmemmat tulokset samassa ajassa.

Lisäksi vaihdettavat kollimaattorit, automaattinen mittauspään ohjaus ja reaaliaikainen kuva tekevät suurten sarjojen testaamisesta sujuvaa ja lähes automaattista.

Miksi XDV®-SDD on oikea valinta?

✅ Huippuherkkä: Mittaa ohuimmatkin mikrokerrokset.

✅ Automatisoitavissa: Sopii täydellisesti korkean volyymin tuotantoon.

✅ Monipuolinen: Pinnoitteet, materiaalianalyysi ja haitta-aineet samalla laitteella.

✅ Vankka: Rakennettu kestämään vaativia teollisuusolosuhteita.

Olipa kyseessä tutkimus ja kehitys tai tiukka laadunvalvonta, XDV®-SDD nostaa riman korkeammalle kuin koskaan.

Tutustu videon parissa tarkemmin Fischerscope-mallistoon:

Verkkosivuilla pääset lataamaan ilmaista materiaalia ja tutustumaan lisää laitteeseen, tästä verkkosivuille:

https://www.holgerhartmann.fi/fischercope-xdv-sdd

Ota yhteyttä – autamme mielellämme!

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi