5 XRF-analysaattorin ominaisuutta, joita kannattaa pohtia laitehankinnan yhteydessä

Kalliin laitehankinnan suunnittelussa kannattaa lähteä liikkeelle omasta tarpeesta — mikä laite/palvelu-kokonaisuus vastaa juuri siihen omaan haasteeseen.

 

Mitä kannattaa ottaa huomioon laitehankinnan yhteydessä?

 

1. Mitä halutaan mitata?

Ensimmäisenä sinun kannattaa vastata kysymykseen mitä alkuaineita haluatte mitata ja mistä materiaalista? Jos tämä on hankala kysymys, ottakaa yhteyttä laitetoimittajiin, jotka mielellään avustavat tarvekartoituksessa. XRF-analysaattorin kaksi tärkeintä (ja samalla kalleinta) komponenttia ovat röntgenputki ja detektori – nämä myös määrittelevät mitattavan alkuainevalikoiman sekä valittavan laitteen. Esimerkiksi romupihalla tehtävään lajitteluun riittää usein ns. edullinen perusmalli, jollei alumiinien tarkka lajittelu ole välttämätöntä. 

2016_Niton_jaksollinen_jrjestelm

XRF-analysaattori

2. Mitkä kalibroinnit ovat meille tarpeellisia?

XRF-analysaattoreita käytetään pääsääntöisesti metallianalyysiin (noin 70 % kaikista myytävistä kannetttavista analysaattoreista), mutta niitä voi käyttää myös kaikkien muidenkin kiinteiden tai nestemäisten materiaalien alkuaineanalyysiin. Pääosalle tarpeista laitevalmistajat ovat luoneet valmiit kalibroinnit, jotta laite on käyttövalmiina saapuessaan asiakkaalle. Joissain harvinaisissa, erityisen haastavissa tapauksissa (eräs esimerkki haastavat wolframikarbidinäytteet) tarvitaan asiakkaalta näytteitä, jotta voidaan luoda juuri tämän asiakkaan tarpeeseen empiirinen kalibrointi.

3. Tarvitsemmeko näytteestä kuvan raportointia varten?

XRF-analysaattorin mittaikkunan halkaisija on laitemallista riippuen 8mm – 10 mm, joten näytteen partikkelikoko on syytä ottaa huomioon. Jos mittaikkunan kohdalle osuu juuri vähän suurempi kivi, se saattaa muuttaa mittaustulosta reilustikin. Tästäkin syystä useamman osanäytteen mittaaminen kompensoi tulosta.

4. Minkä kokoisia näytteitä mittaamme? 

Erikokoisten näytteiden mittaus
XRF-analysaattoreilla pystytään mittaamaan hyvin pieniäkin näytteitä (näytekoon kompensaatio on otettu huomioon kalibrointitavassa) eli voit helposti mitata paljon mittausikkunaa pienempiä näytteitä. Haasteita aiheuttaa isomman komponentin sisältä mitattavat pienet alueet. Pienten näytteiden mittauksessa kannattaa harkita kannettavan mittausjalustan hankkimista.


Small Spot -ominaisuus
Joissakin tapauksissa on hyödyllistä pystyä pienentämään mittausalueen pinta-alaa, esimerkiksi kolmen mm:n halkaisijaan tai 1 mm:n halkaisijaan. Tällaista ominaisuutta kutsutaan mm. small spot-ominaisuudeksi tai mittausikkunan halkaisijan pienennykseksi. Tämä ominaisuus on tarpeellinen silloin, kun isomman komponentin sisällä ollaan kiinnostuneita pienemmästä alueesta (esimerkiksi ohuet hitsaussaumat tai piirilevyn sisällä joku tietty komponentti).

5. Miettikää jo etukäteen millainen ohjelmisto on teille paras?

XRF-analysaattorit toimitetaan yleensä ohjelmistopaketin kanssa. Nämä ohjelmistopaketit vaihtelevat valmistajakohtaisesti ja niissä on eroja – kannattaa etukäteen miettiä, mitkä seuraavista ovat teille tärkeitä:

  • Omalla logolla ja omilla yhteystiedoilla olevan raportin printtaaminen ulos helposti.
  • Raportin muokkaus tarpeisiinne soveltuvaksi
  • Etäohjausohjelmisto – joillakin valmistajilla on analysaattorille etäohjausohjelmisto, jolla laitetta voi käyttää kätevästi omalta tietokoneelta käsin. Helpottaa huomattavasti etenkin mittausjalustalla suoritettavia erittäin pienten kappaleiden mittauksia.
  • Omien kalibrointien tekeminen ohjelmistossa.
  • Spektrianalyysi ja spektrin käsittely.
  • Omien metalliseoskirjastojen muokkaus ja lataaminen
Mittaustod_cropped_web 

Mikäli haluat lisätietoa tuotteistamme, ota yhteyttä tiimiimme tästä:

 Ota-yhteytta

 

 

Topics: xrf-analysaattori xrf niton analysaattori holger hartmann Niton XRF-analysaattori Kannettava analysaattori XRF-analysaattorin valinta materiaalin tarkastus materiaalin tunnistus