Kuinka saada optimaaliset tulokset kannettavalla XRF-analysaattorilla

Mikä takaa optimaaliset tulokset kannettavalla XRF-analysaattorilla? Miksi näyte tulisi käsitellä ennen mittausta? Miten valita oikea mittausaika? Keräsimme mm. näihin kysymyksiin vastauksia, kuinka kannettavalla XRF:llä saadaan optimaaliset tulokset.


Mikä takaa optimaaliset tulokset kannettavalla XRF:llä?

Riittävä herkkyys

  • Pitoisuuksien oltava määritysrajan yläpuolella
  • Riittävä mittausaika

Riittävä tarkkuus ja toistettavuus


  • Vakaa laiteXL2-Tilt-Right
  • Riittävä mittausaika
  • Toistettavat tulokset
  • Toistettavissa olevat tulokset (huomioi näytteenkäsittelyn vaatimukset)

Tarkat tulokset

  • Tulokset lähellä todellista arvoa
  • Riippuvat kalibroinnista ja algoritmista
  • Näytteenkäsittelyn vaikutukset analyysitulokseen
  • Laitteen suorituskyvyn varmistus referenssimateriaaleja käyttäen (systemaattinen virhe)

 

Miksi tulisi käsitellä näyte ennen mittausta? 


Näytealueet, joista pinnoitteita/maalia ei ole kokonaan poistettu antavat huonoja, epätarkkoja ja epäluotettavia tuloksia. Esimerkiksi titaani, lyijy, sinkki (maalista), sinkki (galvanoinnista) tai epätavallisen korkea Pii (hiekkapuhalluksesta) ovat tyypillisiä maalatusta/pinnoitetusta teräksestä XL2-Hand-Touching-Screenlöydettyjä "ylimääräisiä" alkuaineita/kohonneita pitoisuuksia.

Korroosio, pinnoitteet ja pinnan epäpuhtaudet voivat aiheuttaa:

  • Vääriä negatiivisia tuloksia, kun pinnoite on liian paksu (kuten Si galvanoidusta teräksestä)
  • Vääriä positiivisia tuloksia, kun ohjelma tulkitsee spektripiikkejä väärin (kuten W ja Co galvanoidussa teräksessä)

Käytä referenssinäytteitä

1. Määrittele, mitä referenssistandardeja (= tunnettu näyte, josta löytyy sertifioidut pitoisuudet) tarvitset:

  • Esim. hiiliteräs, jossa Si<0,1% ja hiiliteräs, jossa Si>0,1%
  • On olemassa paljon standardien tarjoajia, joilla on laaja valikoima näytteitä (Fluxana, Brammer Standards, LGC Promochem, NIST, BAM, BAS yms.)

2. Jos on tarpeen, voit säätää kalibrointia säätämällä kalibrointikertoimia  vähentääksesi systemaattista virhettä

3. Valitse sopivat mittausasetukset (näytteeseen sopiva kalibrointi, sopiva mittausaika, käytettävät suodattimet)

4. Harjoittele näytteenkäsittelyä ja mittausta (millainen vaikutus näytteenkäsittelyllä on tulokseen)

Valitse oikea mittausaika 

XL2-Back

    • Mittausaika on ehdottomasti yksi suurimmista mittavirhettä aiheuttavista muuttujista kannettavissa XRF-analysaattoreissa

  • Mittausaika riippuu vaadittavasta herkkyydestä ja tarkkuudesta (Määritysraja ja virhe vähenevät mittausajan neliöön)

  • Low –suodattimella Cr, V ja Ti ovat 10-20 kertaa herkempiä kuin Main-suodattimella. Kannattaa käyttää vain alle 0.1 paino-% pitoisuuksilla.

  • Matalan energian ja herkkyyden vuoksi, kevyet alkuaineet vaativat pidemmät mittausajat



 Mikäli haluat lisätietoa tuotteistamme, ota yhteyttä tiimiimme tästä:

 Ota-yhteytta

 

 

Topics: holger hartmann niton Niton XRF-analysaattori Kannettava analysaattori materiaalin tunnistus materiaalin tarkastus analysaattori xrf-analysaattori xrf mittalaitteet