Tällä viikolla esittelyssä on SPECTRO XEPOS.
SPECTRO XEPOS XEP05
XEPOSin uusi röntgenputki- ja viritystekniikka mahdollistavat WD-XRF:n tasoisen tarkkuuden vastaavalla mittausajalla. Uusi tekniikka mahdollistaa korkean herkkyyden, hyvän tarkkuuden ja stabiilisuuden sekä matalat havainnointirajat kriittisille alkuaineille.
XEPOS on saatavilla neljänä viritystekniikaltaan erilaisena versiona. XEPOS käyttää heliumkaasua tai tyhjiötä kevyille alkuaineille (Na-Cl), joten myös niistä saadaan luotettavat ja tarkat tulokset.
XEPOS soveltuu sovelluksille, jotka vaativat tarkkaa analyysiä sekä suurille että pienille konsentraatioille, esimerkiksi ympäristö-, geologia-, petrokemian ja kemikaaliteollisuuden sovelluksille. Laitteeseen on mahdollista saada myös Autosampler-ominaisuus, jonka avulla pystytään automaattisesti mittaamaan 12 eri näytettä.
TEKNISET TIEDOT
- Detektori: SDD (Peltier jäähdytys)
- Paino: n. 65kg
- Näytteenkäsittelyvaihtoehdot: Näytetarjotin 12 paikkaa (32 tai 40 mm), Näytetarjotin 25 paikkaa (20 mm), Näytteenpyöritin 8 paikkaa (40 mm) tai 6 paikkaa (52mm), Analyysi heliumissa tai tyhjiössä
- Olosuhteet: 15–30 °C, Suhteellinen kosteus: <80 % 25°C, <75 % 30 °C, Ei syövyttäviä höyryjä tai suurta pölysaastetta
Tässä englannin kielisessä videossa esitellään XRF-teknologiaa ja näytetään SPECTRO:n laitteita, myös XEPOS esitellään ja näytetään mm. se millainen Autosampler-ominaisuus on ja miten sillä voidaan mitata automaattisesti 12 eri näytettä. Kannattaa katsoa!
Lisätietoa laitteistamme saat asiantuntevalta henkilökunnaltamme!
Kerromme mielellämme lisää laitteistamme, joten älä epäröi ottaa yhteyttä tiimiimme!
Voit ottaa yhteyttä tiimiimme vaikka tästä:
