Mittaa enemmän, nopeammin ja älykkäämmin – XDL® vie XRF-teknologian sinne, missä tehokkuus ratkaisee!

 

Laadunvarmistus ei ole koskaan ollut näin helppoa! Voit unohtaa manuaalisen mittauksen, kun automaatio tekee työn puolestasi tarkasti ja nopeasti joka ikinen kerta.

 

 

XRF-automaatio, joka sopii myös aloittelijoille

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® -sarjan laitteet ovat erinomainen valinta laadunvarmistukseen, saapuvan materiaalin tarkastukseen ja tuotannon valvontaan. Ne muistuttavat rakenteeltaan XULM®-sarjan laitteita, mutta tärkein ero on mittaussuunnan muutos: XDL®-sarjan mittaus tapahtuu ylhäältä alas. Tämä mahdollistaa epätasaisten näytteiden helpon analysoinnin – ja ennen kaikkea automaattisen mittauksen!

Kestävä, helppokäyttöinen ja nopea

Vankka rakenne on suunniteltu erityisesti sarjatuotantokomponenttien mittaamiseen – laite kestää kovaa käyttöä vaativassa tuotantoympäristössä.

Laitteen käyttöönotto on erittäin nopeaa ja yksinkertaista – muutamassa vaiheessa näyte on paikallaan ja valmis mittaukseen.

Näyte asetetaan paikoilleen, ja muutaman vaiheen jälkeen ollaan valmiita aloittamaan mittaus. Patentoitu DCM-menetelmä mahdollistaa mittausetäisyyden automaattisen säädön.

Räätälöity tarpeidesi mukaan ja sopii myös suurille näytteille

Useat eri mallit takaavat optimaalisen ratkaisun juuri sinun sovellukseesi.

C-aukollinen huppu tarjoaa tilaa ja joustavuutta suurikokoisten kappaleiden mittaukseen. Mittauspisteitä voidaan määrittää koko näytepinnan alueelle.

Teknisiä ominaisuuksia

  • Hyväksytty täyssuojalaite (tyyppihyväksytty)0_10-1

  • PC-ilmaisin markkinoiden suurimmalla mittausikkunalla

  • Vakiokokoinen röntgenputki

  • Enimmäisnäytekorkeus jopa 140 mm

  • Pienin mittauspiste: n. Ø 0,2 mm

  • Soveltuu myös metallipitoisuuden määritykseen pinnoituskylvyistä

  • Proportionaalinen laskuri-ilmaisin lyhyisiin mittausaikoihin

Sovellusesimerkkejä

  • Galvanoidut pinnoitteet, kuten sinkki raudalla (korroosiosuojaus)0_2

  • Massatuotannon sarjatestaukset

  • Koristekromaus: Cr/Ni/Cu/ABS

  • Kaikki tyypilliset kromipinnoitteet, mukaan lukien Cr(VI) ja uudempi Cr(III)

  • Liittimien ja koskettimien pinnoitteet elektroniikkateollisuudessa: esim. Au/Ni/Cu ja Sn/Ni/Cu

  • Pinnoituskylpyjen metallipitoisuuden määritys

 

Verkkosivuillamme voit tutustua laitteeseen tarkemmin, katsoa videoita tai ladata ilmaista materiaalia. Sivuille pääset tästä:

https://www.holgerhartmann.fi/fischercope-x-ray-xdl-ja-xdlm

 

Onko sinulla muita käyttökohteita mielessä? Ota yhteyttä – autamme mielellämme!

 

so-1

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi

 

 

 

Topics: xrf teollisuus automaatio pinnoite laadunvarmistus pinnoitteet