Kolme syytä valita SPECTRO ARCOS

 

SPECTRO ARCOS on kehitetty vastaamaan nykypäivän laboratorioiden kiireisiin ja tiukkoihin vaatimuksiin. Se tarjoaa teknologian, joka tekee tarkan alkuaineanalyysin tekemisestä nopeampaa ja huomattavasti edullisempaa.

Unohda perinteiset kompromissit tarkkuuden ja nopeuden välillä. ARCOSin avulla saat molemmat – pienemmillä käyttökustannuksilla.

 

 

 

 

1. Lyömätön tarkkuus kaikissa näytteissä 

ARCOS on suunniteltu käsittelemään kaikkein monimutkaisimmatkin matriisit (esim. suuret TDS-pitoisuudet) ilman, että joudut tinkimään tulosten luotettavuudesta.

  • Edistyksellinen optiikka takaa poikkeuksellisen spektriresoluution. Näet pitoisuudet jopa ppm-tasolla puhtaasti ja ilman häiriöitä.

  • Voit vaihtaa mittaustilaa optimaalisesti näytematriisin mukaan (esim. herkkyyden tai robustiuden painottaminen) alle 90 sekunnissa.

2. Pienet käyttökustannukset 

Laboratorion suurimmat kulut liittyvät usein apulaitteisiin ja kaasunkulutukseen. ARCOS leikkaa nämä kustannukset minimiin:

  • ARCOS on ainoa täysin ilmalämmitteinen ICP-OES-järjestelmä, mikä poistaa kalliin ulkoisen jäähdyttimen tarpeen.

  •  Älykkäät teknologiat vähentävät jatkuvan kaasunpuhdistuksen tarvetta, säästäen merkittävästi Argonin kulutuksessa.

 

3. Maksimoi läpimenokyky ja käytettävyys 

Nopeus on rahaa, kun laboratorio tukee tuotantoa. ARCOS tekee analyysista sujuvampaa:

  • Nopeat Analyysit: Käsittele yksinkertaiset matriisit jopa 30 sekunnissa (jopa 60 näytettä tunnissa).

  • Helppo Huolto: Intuitiivinen käyttöliittymä ja kasettimalliset komponentit tekevät rutiinihuollosta nopeaa ja vähentävät seisokkiaikaa.

  • Etähallinta: Mahdollisuus seurata laitetta etänä varmistaa prosessin jatkuvuuden missä tahansa.

     

 

Tutustu videolla Spectro Arcosiin:

 

Ota yhteyttä – autamme mielellämme!

 


so-1

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi

 

 

 

Topics: holgerhartmann alkuaineanalyysi SPECTRO ICP-OES teollisuus analyysi laboratorio arcos spektrometria