Laadunvarmistuksen ei tarvitse olla hidasta, manuaalista ja altista inhimillisille virheille. Kun mittaukset voidaan automatisoida, tulokset saadaan nopeasti, luotettavasti ja samalla tavalla – kerta toisensa jälkeen.

Juuri tähän tarpeeseen on kehitetty FISCHERSCOPE X-RAY XDL -sarja: XRF-analysaattori, joka yhdistää automaation, helppokäyttöisyyden ja tuotantoympäristön kestävyyden.

XRF-automaatio, joka sopii myös ensikertalaiselle

XDL-sarjan rakenne muistuttaa XULM®-sarjan laitteita, mutta yksi ratkaiseva ero tekee siitä erityisen käytännöllisen: mittaus tapahtuu ylhäältä alas.

Tämä mahdollistaa:

• Epätasaisten ja erimuotoisten näytteiden helpon analysoinnin
• Mittauspisteiden joustavan määrittelyn koko näytepinnalle
• Automaattiset mittaukset ilman jatkuvaa käyttäjän säätöä

Kun näyte on asetettu paikoilleen, mittausprosessi etenee hallitusti ja toistettavasti. Patentoitu DCM-menetelmä säätää mittausetäisyyden automaattisesti, mikä parantaa mittaustarkkuutta ja vähentää käyttäjäriippuvuutta.

Tämä tekee laitteesta erinomaisen ratkaisun myös laboratorioihin ja tuotantoympäristöihin, joissa käyttäjäkokemus vaihtelee.

Suunniteltu tuotannon arkeen

Tuotantoympäristössä laitteen on kestettävä käyttöä – joka päivä. XDL-sarja on rakennettu vankaksi ja luotettavaksi erityisesti sarjatuotantokomponenttien mittaukseen.

Käyttöönotto on nopea:
Näyte paikalleen, muutama vaihe käyttöliittymässä ja mittaus voi alkaa.

C-aukollinen huppu tuo lisäjoustavuutta suurten ja hankalasti käsiteltävien kappaleiden mittaukseen. Enimmäisnäytekorkeus on jopa 140 mm, joten myös suuremmat osat voidaan analysoida ilman kompromisseja.

Missä XDL tuo konkreettista hyötyä?

Laite soveltuu monipuolisesti eri teollisuudenaloille ja sovelluksiin:

• Galvanoidut pinnoitteet, kuten sinkki raudan päällä (korroosiosuojaus)
• Massatuotannon sarjatestaukset
• Koristekromaus: Cr/Ni/Cu/ABS
• Kaikki tyypilliset kromipinnoitteet, mukaan lukien Cr(VI) ja Cr(III)
• Elektroniikkateollisuuden liitin- ja kosketinpinnoitteet, esim. Au/Ni/Cu ja Sn/Ni/Cu
• Pinnoituskylpyjen metallipitoisuuden määritys

Kun mittaukset voidaan automatisoida, laadunvalvonta ei hidasta tuotantoa – se tukee sitä.

Kohti sujuvampaa laadunvarmistusta

Automaattinen XRF-mittaus ei ole enää vain suurten laboratorioiden etuoikeus. Se on käytännöllinen, helposti käyttöönotettava ja tuotantoon integroitava ratkaisu.

Kun tavoitteena on tasalaatuinen tuotanto, nopea reagointi ja dokumentoitava mittausdata, FISCHERSCOPE X-RAY XDL tarjoaa selkeän ja tehokkaan ratkaisun.

Verkkosivuillamme voit tutustua laitteeseen tarkemmin, katsoa videoita tai ladata ilmaista materiaalia. Sivuille pääset tästä:

https://www.holgerhartmann.fi/fischercope-x-ray-xdl-ja-xdlm

Onko sinulla muita käyttökohteita mielessä? Ota yhteyttä – autamme mielellämme!

Santtu Ojala

Myyntipäällikkö, Teollisuuden analyysilaitteet

010 526 3987

santtu.ojala(at)holger.fi